[發明專利]超高介電常數多層陶瓷電容器介質及其制備方法有效
| 申請號: | 200710060648.8 | 申請日: | 2007-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN101226827A | 公開(公告)日: | 2008-07-23 |
| 發明(設計)人: | 李玲霞;張平;王瓛;王洪茹;張志萍 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | H01G4/12 | 分類號: | H01G4/12;H01B3/12;C04B35/468;C04B35/622 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 | 代理人: | 曹玉平 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超高 介電常數 多層 陶瓷 電容器 介質 及其 制備 方法 | ||
技術領域
本發明是關于電子元器件的,特別涉及一種超高介電常數多層陶瓷電容器介質材料及其制備方法。
背景技術
隨著無線電通信技術、衛星廣播通信、衛星地面接受系統、航空與航天技術的飛躍發展,要求研制性能更優、體積更小、頻帶更寬的電子設備。構成這些電子設備的元器件要求小型化、微型化、輕量化和片式化,以適應電子元件的表面貼裝技術(SMD)的需要。在各類電子元器件中多層陶瓷電容器(Multilayer?Ceramic?Capacitors,簡稱MLCC)則是應用最廣的一類片式元件。在結構和工藝條件(包括電極面積、疊層數目和介質膜厚度)確定的情況下,MLCC的容量大小主要由MLCC材料的介電常數ε確定。因此提高介電常數是MLCC實現微小型化的關鍵。
近年來,國內外對X7R陶瓷電容器介質材料進行了廣泛的研究(根據美國電子工業協會EIA標準:X代表工作溫區的低溫極限-55℃,7代表工作溫區的高溫極限+125℃,R代表在工作溫區內所有溫度點的電容量相對于室溫25℃時的變化率小于或等于±15%),其中以BaTiO3為基的陶瓷材料在生產和應用中都不會對環境產生污染,制得的陶瓷介電性能優良且穩定,因而一直受到人們的高度關注。但X7R系列陶瓷材料在工作溫度上限125℃以上時性能會急劇惡化,為了適應特定的高溫環境下的應用,可以用X8R系列(其中8表示工作溫區的高溫極限為+150℃)的電容器陶瓷介質材料取代X7R系列,提供其高溫的可靠性。另外為了滿足陶瓷電容器小型化、高性能的要求,要盡可能地提高陶瓷介質的介電常數。這就要求在材料的制備過程中提高室溫介電常數的同時,進一步展寬工作溫區。
目前國內外研制的X8R系列的電容器陶瓷介質材料大多采用以BaTiO3為基的材料體系,其室溫介電常數小于4000,很難繼續提高,并且燒成溫度較高(1200以上),不能滿足陶瓷電容器小型化、高性能、低成本的要求。
因此,需要一種介電常數高、燒結溫度低、損耗低、成本低、性能優良的X8R型多層陶瓷電容器介質材料。
發明內容
本發明的目的是克服現有技術的缺點和不足,提供一種介電常數高、燒結溫度低、損耗低、成本低、性能優良的X8R型多層陶瓷電容器介質材料。
本發明通過如下技術方案予以實現。
超高介電常數多層陶瓷電容器介質,其原料組分及重量百分比含量為:BaTiO3為100%,外加3~4%Nb2O5、0.3~0.5%MgCO3、0.1~0.2%MnCO3、18~22%Ag2O和10~13%玻璃粉,以及0.2~0.7%稀土氧化物Y2O3、Gd2O3或Ho2O3的其中一種;所述玻璃粉的原料組分及重量百分比含量為:10~30%Bi2O3、20~30%Pb3O4、20~30%ZnO、10~20%TiO2、10~20%H3BO3。
所述原料組分及重量百分比含量為:BaTiO3?100%,外加3.5%的Nb2O5、0.4%的MgCO3、0.15%的MnCO3、20%的Ag2O和12%的玻璃粉,及0.4%的稀土氧化物Gd2O3;所述玻璃粉的原料組分及重量百分比含量為:20%的Bi2O3、28%的Pb3O4、22%的ZnO、17%的TiO2、13%的H3BO3。
制備步驟如下:
(1)將BaTiO3粉料進行預處理,在1050~1100℃下預燒3h,得到超細BaTiO3粉料;
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