[發明專利]提高光學相干層析術成像質量的方法無效
| 申請號： | 200710057515.5 | 申請日： | 2007-06-01 |
| 公開（公告）號： | CN101057777A | 公開（公告）日： | 2007-10-24 |
| 發明（設計）人： | 劉亦珩;梁艷梅;母國光 | 申請（專利權）人： | 南開大學 |
| 主分類號： | A61B5/00 | 分類號： | A61B5/00;G06T5/40 |
| 代理公司： | 天津佳盟知識產權代理有限公司 | 代理人： | 侯力 |
| 地址： | 300071*** | 國省代碼： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 提高 光學 相干 層析 成像 質量 方法 | ||
【權利要求書】：
1、一種提高光學相干層析術成像質量的方法，其特征是，該方法按如下步驟實現：
(1)計算光學相干層析系統采集的原始圖像的歸一化直方圖；
(2)采用擬作為概率密度函數的各函數對原始圖像的歸一化直方圖進行最小二乘擬合；
(3)選擇殘差平方和最小的函數及其參數作為最佳的擬合函數；
(4)通過改變所選擇函數的參數實現函數的展寬；
(5)用展寬后的函數對光學相干層析原始圖像做直方圖匹配；
(6)最后獲得對比度增強并適合人眼觀察的光學相干層析輸出圖像。
2、根據權利要求書1所述的方法，其特征在于，能夠選作概率密度函數的函數具有以下特征：該函數隨自變量增加而減小或有唯一極大峰值，并且當自變量趨于無窮大時該函數的值趨于0。
3、根據權利要求書2所述的方法，其特征在于，能夠選作概率密度函數的函數有：底數大于1的負指數函數、高斯函數、厄蘭函數。
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