[發明專利]持續長效、不需雙氧水的Fenton試劑的制備方法

有效

• 申請號: 200710053026.2
• 申請日: 2007-08-24
• 公開（公告）號: CN101139130A
• 公開（公告）日: 2008-03-12
• 發明（設計）人: 李家麟;余穎
• 申請（專利權）人: 華中師范大學
• 主分類號: C02F1/72
• 分類號: C02F1/72;C02F1/30
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司
• 代理人: 張安國

1.持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征在于，該制備方法不加雙氧水、采用可見光照射下的Cu₂O-Fe²⁺-O₂體系，利用可見光照射氧化亞銅或氧化亞銅復合物生成的過氧化氫與亞鐵離子反應制備Fenton試劑，反應體系中加入空穴犧牲劑，加入量為0-100克/升，體系pH為3-10。

2.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的可見光由400～800nm波長光線組成，其可見光包括太陽光、日常照明用燈具發出的光，所述的照明燈具包括燈管、燈泡、工業用鹵燈、氙燈以及發光二極管。

3.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的氧化亞銅是顆粒狀、晶須狀、棒狀、線狀、帶狀、磁盤狀、片狀、花狀、空球或立方體形貌的無定形結構、或結晶結構、或無定形與結晶結構同時存在的氧化亞銅。

4.如權利要求3所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的氧化亞銅尺寸范圍為3nm-10cm，至少有一維粒度在3nm-100nm之間的納米材料。

5.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的氧化亞銅復合物包括能與氧化亞銅按任何比例通過物理或化學方法復合在一起而組成的復合物，其中氧化亞銅為至少有一維粒度在3nm-100nm之間的納米材料。

6.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的亞鐵離子為處于絡合或螯合態化合物中的亞鐵離子，或是處于共價化合物酞青鐵、卟啉鐵、沒食子酸鐵或鄰苯二酚鐵中的亞鐵離子，或是被吸附或離子交換固定化的亞鐵離子，或是在體系中加入三價鐵離子來代替亞鐵離子，然后在光化學反應下轉化成二價鐵，用于亞鐵離子固定化的物質包括氧化硅、氧化鐵、Nafion膜、殼聚糖、各種土壤和天然礦物，亞鐵離子濃度范圍為1×10^-5-100克/升。

7.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的制備方法，其特征是，所述的亞鐵離子可用過渡金屬Ag(I)、Ce(III)、Co(II)、Mn(II)、Ni(II)、Ru(III)和V(III)代替，所述離子濃度范圍為1×10^-5-100克/升。

8.如權利要求1所述的持續長效的Fenton試劑的試劑方法，其特征是，所述的空穴犧牲劑物質包括有機、無機還原劑，有機物如醇、酸、醛類、葡萄糖、乙二胺四乙酸，無機物如Fe²⁺、可溶性硫化物、亞硫酸鹽。