[發(fā)明專利]音叉晶體自動(dòng)調(diào)頻設(shè)備及其制作工藝無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710052662.3 | 申請(qǐng)日: | 2007-07-09 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101345514A | 公開(kāi)(公告)日: | 2009-01-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 喻信東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 喻信東 |
| 主分類號(hào): | H03H3/02 | 分類號(hào): | H03H3/02;H03H9/21 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 441300湖北省隨州市曾都*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 音叉 晶體 自動(dòng) 調(diào)頻 設(shè)備 及其 制作 工藝 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及到音叉晶體諧振器生產(chǎn)領(lǐng)域,是一種對(duì)音叉晶體諧振器生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)頻率的調(diào)節(jié),即音叉晶體自動(dòng)調(diào)頻設(shè)備及其制作工藝。
背景技術(shù)
目前,音叉晶體諧振器的生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)頻率的調(diào)節(jié),都采用手工調(diào)節(jié),即:晶片與基座組合后,對(duì)晶片的兩個(gè)音叉的尖端外角部位打磨。此方式存在勞動(dòng)效率低、準(zhǔn)確度不高,工人的勞動(dòng)強(qiáng)度大,人工成本難以控制,難以提高效益。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是要提供一種音叉晶體自動(dòng)調(diào)頻設(shè)備及其制作工藝。采用先對(duì)晶片進(jìn)行調(diào)頻,調(diào)好后,再與基座組合,采用自動(dòng)控制系統(tǒng),對(duì)相關(guān)動(dòng)作進(jìn)行控制,以保證產(chǎn)品的準(zhǔn)確性,提高勞動(dòng)效益。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:通過(guò)上料、夾料、進(jìn)位、調(diào)頻、送料制作工藝,自此,完成了一個(gè)晶片的自動(dòng)調(diào)頻工作。
其制作工藝如下:
上料:通過(guò)振動(dòng)盤導(dǎo)軌將待調(diào)頻晶片輸送到待夾取位。在途中,必須通過(guò)晶片上料定向裝置,保證晶片的方向一致。
夾料:測(cè)試頭從初始位前進(jìn)到夾料位,夾取待調(diào)頻晶片,退到初始位,通過(guò)檢測(cè),控制系統(tǒng)對(duì)晶片進(jìn)行測(cè)試判定。
進(jìn)位:測(cè)試頭夾取晶片,運(yùn)動(dòng)到調(diào)頻位置。
調(diào)頻:根據(jù)測(cè)試夾頭實(shí)時(shí)檢測(cè)到的數(shù)據(jù),由控制系統(tǒng)對(duì)調(diào)頻砂輪的轉(zhuǎn)動(dòng)速度、測(cè)試頭所夾晶片與砂輪的接觸度,移動(dòng)滑塊的運(yùn)動(dòng)方向進(jìn)行控制。
送料:調(diào)頻后,測(cè)試頭運(yùn)動(dòng)回到初始位置。
自此,完成一個(gè)晶片的自動(dòng)調(diào)頻工作。下一個(gè)晶片的調(diào)頻工作即從夾料動(dòng)作開(kāi)始。
其制作工藝的設(shè)備裝置如下:
上料裝置:振動(dòng)盤導(dǎo)軌通過(guò)振動(dòng)橋軌與進(jìn)料槽連接,進(jìn)料槽與振動(dòng)橋軌連接處的下部安裝有阻檔塊。
夾料裝置:進(jìn)料槽的側(cè)邊裝有吹氣管,其上面安有蓋板。進(jìn)料槽的一端與測(cè)試夾嘴底座相連,測(cè)試頭由測(cè)試夾嘴上蓋和測(cè)試夾嘴底座組成,并在測(cè)試夾嘴上蓋與測(cè)試夾嘴底座間安裝有測(cè)試彈片。
調(diào)頻裝置:移位滑塊中間部位裝有移位彈片,在移位彈片的一端裝有調(diào)頻砂輪。
由于采用了上述技術(shù)方案,解決了勞動(dòng)效率低,準(zhǔn)確度不高的問(wèn)題,保證了產(chǎn)品的質(zhì)量,提高了勞動(dòng)效益。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明的制作工藝方框圖。
圖2為本發(fā)明的晶片上料裝置正視示意圖。
圖3為本發(fā)明的晶片上料裝置俯視示意圖。
圖4為本發(fā)明的測(cè)試頭夾料裝置示意圖。
圖5為本發(fā)明的測(cè)試頭夾料裝置的構(gòu)造示意圖。
圖6為本發(fā)明的進(jìn)料槽示意圖。
圖7為本發(fā)明的進(jìn)料槽的構(gòu)造示意圖。
圖8為本發(fā)明的調(diào)頻裝置示意圖。
圖9為本發(fā)明的調(diào)頻裝置的構(gòu)造示意圖。
在圖中:1、晶片;2、振動(dòng)盤導(dǎo)軌;3、振動(dòng)橋軌;4、阻檔塊;5、進(jìn)料槽;6、測(cè)試頭;7、測(cè)試彈片;8、測(cè)試夾嘴上蓋;9、測(cè)試夾嘴底座;10、吹氣管;11、蓋板;12、移位彈片;13、調(diào)頻砂輪;14、移位滑塊。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地說(shuō)明。
在圖1中,其制作工藝如下:
上料:通過(guò)振動(dòng)盤導(dǎo)軌(2)將待調(diào)頻晶片(1)輸送到待夾取位。在途中,必須通過(guò)晶片上料定向裝置,保證晶片的方向一致。
夾料:測(cè)試頭(6)從初始位前進(jìn)到夾料位,夾取待調(diào)頻晶片(1),退到初始位,通過(guò)檢測(cè),控制系統(tǒng)對(duì)晶片(1)進(jìn)行測(cè)試判定。
進(jìn)位:測(cè)試頭(6)夾取晶片(1),運(yùn)動(dòng)到調(diào)頻位置。
調(diào)頻:根據(jù)測(cè)試夾頭(6)實(shí)時(shí)進(jìn)檢測(cè)到的數(shù)據(jù),由控制系統(tǒng)對(duì)調(diào)頻砂輪的轉(zhuǎn)動(dòng)速度、測(cè)試頭(6)所夾晶片(1)與調(diào)頻砂輪(13)的接觸度,移動(dòng)滑塊(14)的運(yùn)動(dòng)方向進(jìn)行控制。
送料:調(diào)頻后,測(cè)試頭(6)運(yùn)動(dòng)回到初始位置。
自此,完成一個(gè)晶片的自動(dòng)調(diào)頻工作。下一個(gè)晶片的調(diào)頻工作即從夾料動(dòng)作開(kāi)始。
其制作工藝的設(shè)備裝置如下:
在圖2和圖3中,上料裝置:振動(dòng)盤導(dǎo)軌(2)通過(guò)振動(dòng)橋軌(3)與進(jìn)料槽(5)連接,進(jìn)料槽(5)與振動(dòng)橋軌(3)連接處的下部安裝有阻檔塊(4)。
在圖4和圖5中的夾料裝置:進(jìn)料槽(5)的側(cè)邊裝有吹氣管(10),其上面安有蓋板(11)。進(jìn)料槽(5)的一端與測(cè)試夾嘴底座(9)相連,測(cè)試頭(6)由測(cè)試夾嘴上蓋(8)和測(cè)試夾嘴底座(9)組成,并在測(cè)試夾嘴上蓋(8)與測(cè)試夾嘴底座(9)間安裝有測(cè)試彈片(7)。
在圖8和圖9中的調(diào)頻裝置:移位滑塊(14)中間部位裝有移位彈片(12),在移位彈片(12)的一端裝有調(diào)頻砂輪(13)。
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