[發(fā)明專利]地質(zhì)勘探鉆孔數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200710052262.2
• 申請日: 2007-05-21
• 公開（公告）號: CN101311750A
• 公開（公告）日: 2008-11-26
• 發(fā)明（設計）人: 王增科;陳建文;程樂晃;戴猶芳
• 申請（專利權(quán)）人: 江西銅業(yè)集團公司
• 主分類號: G01V3/38
• 分類號: G01V3/38;G01N35/00
• 代理公司: 江西省專利事務所
• 代理人: 胡里程;黃新平

1、一種地質(zhì)勘探鉆孔數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，其特征在于：本發(fā)明地質(zhì)勘探數(shù)據(jù)運用sqlserver2000統(tǒng)一存儲、保證數(shù)據(jù)的統(tǒng)一完整、數(shù)據(jù)共享，

本發(fā)明的圖形的繪制和數(shù)據(jù)計算方法：樣品的組合、臺階的剖切、平面剖切、縱剖面剖切；距離反比法計；

鉆孔品位的臺階切割組合：臺階范圍內(nèi)的鉆孔品位、樣品長度加權(quán)平均處理；

臺階的剖切：將臺階范圍內(nèi)的鉆孔品位數(shù)據(jù)加權(quán)平均處理，坐標應用臺階范圍內(nèi)的樣品品位的平均坐標；

水平面的剖切：調(diào)用化驗品位帶坐標表各種某水平高度的所有品位坐標數(shù)據(jù)；

縱剖面的剖切：設定剖切方向、選擇要剖切的鉆孔、通過坐標轉(zhuǎn)換和旋轉(zhuǎn)投影出鉆孔鉆孔線、元素品位和巖石屬性數(shù)據(jù)；

距離反比法：

考慮在某一測定區(qū)域，在若干測定點xi(i＝1，2，…)測得一組數(shù)據(jù)為Z(xi).假設未測定點x0的估計值為其周圍測定點測定值的線性之和，即

Z^(x0)=Σi=1nλiZ(xi).]]>

(1)λi是和測點有關的權(quán)重，

對距離反比法，權(quán)重λi的確定原則是：測定點對未測定點值的權(quán)重隨與測定點距離的增加而減少，λi可用下式求得：

λi=[d(xi,x0)]p/Σi=1n[d(xi,x0)]-p,]]>

(2)式中，d(x1，x0)為測點xi與未測定點x0之間的距離.冪指數(shù)p的選取控制著權(quán)重λi趨向0的快慢程度，通常p在1至3之間選值，大多數(shù)情況選p＝2。