[發(fā)明專(zhuān)利]一種硅/玻璃激光局部鍵合方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710052170.4 | 申請(qǐng)日: | 2007-05-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101050066A | 公開(kāi)(公告)日: | 2007-10-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 史鐵林;廖廣蘭;湯自榮;馬子文;聶磊;林曉輝;彭平 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | C03C27/00 | 分類(lèi)號(hào): | C03C27/00;H01L21/02 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專(zhuān)利中心 | 代理人: | 方放 |
| 地址: | 430074湖北*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 玻璃 激光 局部 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于晶圓鍵合技術(shù),具體涉及一種硅/玻璃激光局部鍵合方法。
背景技術(shù)
自從硅被發(fā)現(xiàn)具有良好的機(jī)械性能、并且能被多種工藝加工成微結(jié)構(gòu)后,它在傳感器制造中得到了大量的應(yīng)用;同時(shí),由于借鑒了硅在IC制造中的成熟工藝,使得在具有傳感或執(zhí)行功能的硅基微系統(tǒng)中集成電路成為可能;而玻璃具有電絕緣性、良好的透光性、高機(jī)械強(qiáng)度及化學(xué)穩(wěn)定性,因此,硅和玻璃在微機(jī)電系統(tǒng)MEMS(Micro?Electro?MechanicalSystem)制造中得到了大量的應(yīng)用,而硅和玻璃之間的鍵合技術(shù)則是決定著MEMS封裝成功的關(guān)鍵技術(shù)之一。
目前硅和玻璃的鍵合技術(shù)主要有直接/共熔鍵合技術(shù)、陽(yáng)極鍵合技術(shù)等。直接/共熔鍵合技術(shù)已運(yùn)用到多種MEMS器件的制造中,如壓力傳感器、微泵、化學(xué)傳感器都需要在襯底上鍵合機(jī)械支撐結(jié)構(gòu)。硅的熔融鍵合大多用在SOI技術(shù)上,如Si-SiO2鍵合和Si-Si鍵合,然而,該鍵合工藝需要較高的退火溫度。陽(yáng)極鍵合的溫度為200-400度,低于直接/共熔鍵合的溫度,然而它需要1000-2000V的強(qiáng)電場(chǎng)才能實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的鍵合,而強(qiáng)電場(chǎng)會(huì)對(duì)微電路產(chǎn)生威脅,并且陽(yáng)極鍵合中玻璃的堿離子可能會(huì)對(duì)器件帶來(lái)污染,鍵合對(duì)晶圓表面平整度的嚴(yán)格要求也限制了它在MEMS制造中的應(yīng)用。
因此,盡管直接/共熔鍵合和陽(yáng)極鍵合在高溫、高壓情況下能得到很高的鍵合強(qiáng)度,然而并不適用于已經(jīng)集成了金屬薄膜的壓力、化學(xué)和熱傳感MEMS器件的鍵合封裝。當(dāng)前,越來(lái)越多的研究者正致力于利用晶圓表面活化處理來(lái)降低陽(yáng)極鍵合和熔融鍵合的外加輔助場(chǎng)強(qiáng)度,但它們都需要在整個(gè)器件或襯底上加熱,這會(huì)導(dǎo)致不必要的應(yīng)力和溫度場(chǎng)分布,而且上述鍵合技術(shù)也不容易實(shí)現(xiàn)選擇性鍵合,鍵合面積和熱影響區(qū)難以控制。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種硅/玻璃激光局部鍵合方法,目的在于使特定區(qū)域局部高溫,實(shí)現(xiàn)鍵合,并具有高的鍵合強(qiáng)度,同時(shí)晶圓或器件整體上處于較低的溫度,不會(huì)產(chǎn)生不必要的溫度梯度和應(yīng)力場(chǎng)分布,以避免已經(jīng)集成的壓力、溫度等傳感器件的性能受到影響。
本發(fā)明的一種硅/玻璃激光局部鍵合方法,順序包括:
(1)清洗步驟,將待鍵合的硅和玻璃樣片浸泡到清洗液中清洗;
(2)一次活化步驟,將清洗后的硅和玻璃樣片浸泡到氨基活化液中進(jìn)行活化,活化后取出;
(3)二次活化步驟,將一次活化后的硅和玻璃樣片浸泡到鹽酸基活化液中繼續(xù)活化,活化后取出;
(4)預(yù)鍵合步驟,將二次活化后的硅和玻璃樣片吹干,在室溫下迅速貼合,使之發(fā)生預(yù)鍵合;
(5)激光加熱步驟,利用激光輻照加熱,使貼合后的硅和玻璃發(fā)生局部鍵合。
所述的一種硅/玻璃激光局部鍵合方法,其特征在于:
(1)所述清洗步驟中清洗液為H2SO4與H2O2的混合溶液,清洗液溫度50~150℃,清洗時(shí)間10~30分鐘;
(2)所述一次活化步驟中,氨基活化液為NH4OH、H2O2和去離子H2O的混合溶液,活化溫度50~90℃,活化時(shí)間10~30分鐘;
(3)所述二次活化步驟中,鹽酸基活化液為HCl、H2O2和去離子H2O的混合溶液,活化溫度50~90℃,活化時(shí)間10~30分鐘。
所述的一種硅/玻璃激光局部鍵合方法,其進(jìn)一步特征在于:
(1)所述清洗步驟中的H2SO4質(zhì)量濃度98%、H2O2的質(zhì)量濃度30%,體積比H2SO4∶H2O2=2~4∶1;
(2)所述一次活化步驟中,NH4OH的質(zhì)量濃度25%、H2O2的質(zhì)量濃度30%,體積比NH4OH∶H2O2∶H2O=1~3∶1∶3~8;
(3)所述二次活化步驟中,HCl的質(zhì)量濃度40%、H2O2的質(zhì)量濃度30%,體積比HCl∶H2O2∶H2O=1~3∶1∶3~8。
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