[發(fā)明專利]B超成像方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710050498.2 | 申請(qǐng)日: | 2007-11-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101156788A | 公開(公告)日: | 2008-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 田睦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都西云科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | A61B8/14 | 分類號(hào): | A61B8/14;G06F17/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610000四川省成都*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 成像 方法 | ||
1.B超成像方法,其特征在于,所述B超成像方法在檢測(cè)時(shí)控制打開超聲探頭上的1~3個(gè)探頭陣元并發(fā)射超聲波,在發(fā)射時(shí)不聚焦,在接收時(shí)同時(shí)進(jìn)行發(fā)射與接收雙向逐點(diǎn)聚焦。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的B超成像方法,其特征在于,所述探頭為通用探頭;陣元是指探頭上被分割成的材料塊,陣元結(jié)構(gòu)可為凸頭、線陣或腔體結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的B超成像方法,其特征在于,所述B超成像方法在檢測(cè)時(shí)控制打開2~3個(gè)探頭陣元并發(fā)射超聲波,各探頭陣元之間發(fā)射超聲波沒有延時(shí)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任意一項(xiàng)所述的B超成像方法,其特征在于,在對(duì)發(fā)射和接收的超聲波同時(shí)進(jìn)行逐點(diǎn)聚焦按下述步驟進(jìn)行:
a、每次發(fā)射形成不同頻率上的N條掃描線,N=1~128,其中,Y(f)=F(X(t),f),t=1~8192;f=1.5M~8M;
b、在合成每條掃描線上的每一個(gè)采樣點(diǎn)時(shí),對(duì)每路信號(hào),對(duì)應(yīng)于不同頻率,計(jì)算發(fā)射接收雙向延時(shí);
c、延時(shí)=(發(fā)射源到點(diǎn)的距離×頻率系數(shù)+點(diǎn)到接收源的距離)/超聲波的速度;
d、延遲點(diǎn)數(shù)=延時(shí)×采樣頻率;
e、對(duì)產(chǎn)生每條掃描線,按下述公式進(jìn)行合成相加;
Z(t,k)=sum(Y(t,f),f),t=1~8192,k=1~128,f=1.5M~8M。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的B超成像方法,其特征在于,在進(jìn)行合成相加后,還包括坐標(biāo)轉(zhuǎn)換,坐標(biāo)轉(zhuǎn)換采用弧線濾波插值法,在FPGA上掛配一個(gè)64?BIT寬的SDRAM實(shí)現(xiàn)任意區(qū)間無級(jí)放大,及電影回放,鎖存功能,其中,
a、每個(gè)SDRAM的位置存放一條線的1~8點(diǎn),共64?BIT;
b、計(jì)算需要做坐標(biāo)轉(zhuǎn)換的區(qū)間在SDRAM內(nèi)存儲(chǔ)地址;
地址=t×cos(k),t=1~8192,k=1~128;
c、每次讀出地址對(duì)應(yīng)的8條線的8個(gè)點(diǎn);
d、采用SINC函數(shù)做弧線濾波插值。
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