[發明專利]基于終端短路法的介質材料高溫復介電常數測量方法

無效

• 申請號: 200710050351.3
• 申請日: 2007-10-30
• 公開（公告）號: CN101158702A
• 公開（公告）日: 2008-04-09
• 發明（設計）人: 李恩;李仲平;聶在平;何鳳梅;郭高鳳;張大海;張其劭;王金明
• 申請（專利權）人: 電子科技大學
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26;G01R31/00;H01P7/00
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技術領域

本發明屬于微波、毫米波技術領域，特別涉及微波、毫米波電介質材料的復介電常數測試技術。

背景技術

微波、毫米波介質材料在微波、毫米波器件和系統中應用是十分廣泛。電介質材料的研究和應用及其性能評定都必須經過其性能參數的實際測試。復介電常數是微波、毫米波介質的一個基本參數，它們是評價介質材料微波性能的主要依據，也是進行微波器件設計的重要參數。終端短路法具有測試夾具簡單、測試頻率范圍寬、樣品體積小等優點，常用來進行微波、毫米波介質材料復介電常數的常溫或高溫測試，測試方法示意圖見圖1。也可以采用矢量網絡分析儀測量出測試波導口的反射系數，根據反射系數、測試波導段的長度和被測介質樣品厚度來計算出樣品的復介電常數。

如果采用VSWR測量儀測量被測介質樣品的復介電常數，如圖1所示，當測試波導的末端填充介質樣品時，可以在被測介質樣品的輸入端得到公式(1)：

tanh(γd)γd=1jkd·(1-jρtan(kx0)ρ-jtan(kx0))---(1)]]>

其中，γ為介質樣品波導段中的傳輸系數，d為介質樣品的長度，k為未放入被測介質樣品的測試波導部分中的相位常數，ρ為被測介質樣品部分的駐波比，x₀為駐波最小點到被測介質樣品輸入端的距離。另外，

γ＝α+jβ????(2)

其中，α為衰減常數，β為相位常數。由(1)式求出介質樣品波導段中的傳輸系數γ后，由介質波導的條件方程可求得被測介質樣品的復介電常數：

ϵr′=kc+β2-α2k02---(3)]]>