[發明專利]測量介質含量的方法及測量儀器

無效

• 申請號: 200710050298.7
• 申請日: 2007-10-19
• 公開（公告）號: CN101413910A
• 公開（公告）日: 2009-04-22
• 發明（設計）人: 鄧霞
• 申請（專利權）人: 鄧霞
• 主分類號: G01N27/22
• 分類號: G01N27/22;G06F19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

一種直接指示介質含量的測量方法，采用測量儀器向被測物體供給交變電流，交變電流流過物體內部介質加兩旁離子形成的電容路徑產生虛部電流Ix，采用公式X_C＝V/Ix(或X_C＝R/tgθ、或X_C＝Z/sinθ、或XC=Z*R/R2-Z2)]]>獲得虛部電阻(率)、采用公式C＝1/2πFXc獲得電容(率)；交變電流流過被測物體還產生諧振頻率F₀，在被測物體上并聯電容C₁后會產生新的諧振頻率F₁，采用公式C＝F₁²*C₁/(F₀²-F₁²)獲得電容(率)，令所獲得的電容率C等于第二介電常數ε_T，最后依據第二介電常數ε_T與介質含量正相關方式直接指示介質含量。

一種測量儀器，包括信號源(1)、電流源(2)、采樣電路(3)、電流測量電路(4)、電壓測量電路(5)、相位測量電路(6)、諧振電容箱(7)、計算顯示系統(8)、A電極(9)、B電極(10)，信號源(1)產生交流信號傳送給電流源(2)，電流源(2)傳送給采樣電路(3)，采樣電路(3)采集電流信號傳送給電流測量電路(4)并將電流經A電極(9)傳送給被測物體，電流流過被測物體后由B電極(10)返回電流源(2)，電流測量電路(4)從采樣電路(3)采集電流信號后使用同相位檢波獲得實部電流、使用移相90°檢波獲得虛部電流、使用自相關檢波獲得模電流然后經放大整理送給計算顯示系統(8)，電壓測量電路(5)從A電極(9)采集電壓信號經放大整理后送給計算顯示系統(8)，相位測量電路(6)采集電流測量電路(4)和信號源(1)(或電流源(2))的相位進行相位差測量整理后送入計算顯示系統(8)，計算顯示系統(8)將數據進行計算記錄顯示，諧振電容箱(7)并聯于A電極(9)與B電極(10)兩端。