[發明專利]用激光干涉法測量數控機床圓軌跡的方法

有效

• 申請號: 200710049397.3
• 申請日: 2007-06-29
• 公開（公告）號: CN101096073A
• 公開（公告）日: 2008-01-02
• 發明（設計）人: 羨一民;薛梅;黃紹怡;舒陽
• 申請（專利權）人: 成都工具研究所
• 主分類號: B23Q17/24
• 分類號: B23Q17/24;G01B11/00;G01B11/03;G01B11/08
• 代理公司: 成都立信專利事務所有限公司
• 代理人: 馮忠亮

1、用激光干涉法測量數控機床圓軌跡的方法，其特征在于位于數控機床工作臺上的直角坐標機構將數控機床工作臺與主軸的相對圓運動分解為X、Y兩個方向的分量，用激光干涉儀測量出這兩個分量值根據測量值計算出圓運動的實際軌跡，其步驟如下：

a.將底座(1)和激光干涉儀的激光頭(4)固定于數控機床的工作臺上，與X軸同向橫臂(2)與底座(1)的滑道滑動配合，夾持器(3)安裝于數控機床主軸上與橫臂(2)滑動配合；

b.將第一角偶反射鏡(6)固定在分光鏡(5)上，分光鏡(5)固定在橫臂(2)的端部，第二角偶反射鏡(7)固定在底座(1)的滑道端部，激光干涉儀的激光頭(4)、分光鏡(5)和第二角偶反射鏡(7)在Y方向的同一軸線上，激光干涉儀的激光頭(4)發出的激光在分光鏡(5)分光，一束指向第一角偶反射鏡(6)，另一束指向第二角偶反射鏡(7)，

c.將數控機床工作臺運行至需要測量的名義軌跡中心，調整底座(1)在工作臺上的位置，使夾持器(3)位于橫臂(2)的中點，橫臂(2)位于底座(1)滑道的中點，激光干涉儀清零，數控機床工作臺沿X方向或Y方向運行名義軌跡半徑的距離，

d.數控機床工作臺相對于主軸作圓運動，第二角偶反射鏡(7)和分光鏡(5)之間的光程變化，工作臺沿Y軸的移動距離在激光干涉儀的計算機上讀出，得到圓運動的Y分量，激光干涉儀按工作臺相對于主軸的旋轉角度β或時間間隔t采集旋轉一周的Y分量，

e.將第二角偶反射鏡(7)取下，軸向不變固定在分光鏡(5)上，將第一角偶反射鏡(6)取下，軸向不變固定在夾持器(3)上，重復c步驟和d步驟的過程，采集工作臺相對于主軸旋轉一周的X分量，

f.根據各采樣點的Y分量和X分量計算出該點的實際軌跡半徑R，這些半徑R的組合即為實際軌跡。

2、用激光干涉法測量數控機床圓軌跡的方法，其特征在于位于數控機床工作臺上的直角坐標機構將數控機床工作臺與主軸的相對圓運動分解為X、Y兩個方向的分量，用激光干涉儀測量出這兩個分量值的差值，根據測量值計算出圓運動的實際軌跡，其步驟如下：

a.將底座(1)和激光干涉儀的激光頭(4)固定于數控機床的工作臺上，與X軸同向橫臂(2)與底座(1)的滑道滑動配合，夾持器(3)安裝于數控機床主軸上與橫臂(2)滑動配合；

b.將第一角偶反射鏡(6)固定在夾持器(3)上，第二角偶反射鏡(7)固定在底座(1)的滑道端部，分光鏡(5)固定在橫臂(2)端部，激光干涉儀的激光頭(4)、分光鏡(5)和第二角偶反射鏡(7)同在Y方向同一軸線上，激光干涉儀的激光頭(4)發出的激光在分光鏡(5)分光，一束指向第一角偶反射鏡(6)，另一束指向第二角偶反射鏡(7)，

c.將數控機床工作臺運行至需要測量的名義軌跡中心，調整底座(1)在工作臺上的位置，使夾持器(3)位于橫臂(2)的中點，橫臂(2)位于底座(1)滑道的中點，激光干涉儀清零，數控機床工作臺沿X方向或Y方向運行名義軌跡半徑的距離，

d.數控機床工作臺相對于主軸做圓運動，第一角偶反射鏡(6)與分光鏡(5)之間的光程和第二角偶反射鏡(7)與分光鏡(5)之間的光程都產生變化，激光干涉儀測得的值是這兩個距離之差，即Y分量與X分量的差值，激光干涉儀按工作臺相對于主軸的旋轉角度β或時間t采集旋轉一周的Y分量與X分量的差值，

e.根據各采樣點的Y分量和X分量的差值計算出該點的實際軌跡半徑R，這些半徑R的組合即為實際軌跡。