[發(fā)明專利]一種CuxO電阻存儲(chǔ)器的濕法氧化制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710047974.5 | 申請(qǐng)日: | 2007-11-08 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101159310A | 公開(公告)日: | 2008-04-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林殷茵;傅秀峰;陳邦明;呂杭炳;唐立;尹明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 復(fù)旦大學(xué) |
| 主分類號(hào): | H01L45/00 | 分類號(hào): | H01L45/00;H01L21/82;H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海正旦專利代理有限公司 | 代理人: | 陸飛;盛志范 |
| 地址: | 20043*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 cu sub 電阻 存儲(chǔ)器 濕法 氧化 制備 方法 | ||
1.一種CuxO電阻存儲(chǔ)器的濕法氧化制備方法,其特征在于該存儲(chǔ)器中,作為存儲(chǔ)介質(zhì)的CuxO采用濕法氧化方法制備,具體步驟為:用濃度為10%到50%的雙氧水溶液,在40℃度到80℃下,接觸暴露出的Cu表面,從而得到存儲(chǔ)介質(zhì)CuxO。
2.如權(quán)利要求1所述的CuxO電阻存儲(chǔ)器濕法氧化制備方法與雙大馬士革銅互聯(lián)工藝集成,具體步驟如下:常規(guī)的雙大馬士革銅互連工藝進(jìn)行到溝槽和通孔圖形刻蝕制作完畢,銅上方的蓋帽層被打開前,
(1)、對(duì)于除了需要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的通孔以外的其它部分,采用光刻工藝,用光刻膠保護(hù);
(2)、用刻蝕方法去除要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的銅引線上方的蓋帽層,暴露出下方的銅,要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的通孔以外的其它通孔則被光刻膠保護(hù);
(3)、去除起保護(hù)作用的光刻膠;
(4)、采用濕法氧化方法制備存儲(chǔ)介質(zhì)CuxO,即用濃度10%到50%的雙氧水溶液,在溫度40℃到80℃下,接觸暴露出的Cu引線表面,從而得到存儲(chǔ)介質(zhì)CuxO;
(5)、然后以CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)上方形成的銅化合物介質(zhì)層或者CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)本身作為掩膜,刻蝕去掉其它未生長(zhǎng)存儲(chǔ)介質(zhì)的銅線上方的蓋帽層;再按照雙大馬士革工藝步驟,依次沉積阻擋層、籽晶層、電化學(xué)方法鍍銅、退火、化學(xué)機(jī)械拋光、沉積蓋帽層。
3.如權(quán)利要求1所述的CuxO電阻存儲(chǔ)器濕法氧化制備方法與單大馬士革銅互聯(lián)工藝集成,具體步驟如下:常規(guī)的單大馬士革銅互連工藝進(jìn)行到銅塞上的溝槽形成完畢,銅栓上方的蓋帽層被打開前,
(1)、對(duì)于除了需要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的溝槽以外的其它部分,采用常規(guī)光刻工藝,用光刻膠保護(hù);
(2)、用刻蝕方法去除要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的銅栓上方的襯墊層,暴露出下方的銅,在這個(gè)過(guò)程中,要生長(zhǎng)CuxO存儲(chǔ)介質(zhì)的溝槽以外的其它溝槽則被光刻膠保護(hù);
(3)、去除起保護(hù)作用的光刻膠;
(4)、采用濕法氧化方法制備存儲(chǔ)介質(zhì)CuxO,即用濃度10%到50%的雙氧水溶液,在溫度40℃到80℃下,接觸暴露出的銅栓表面,從而得到存儲(chǔ)介質(zhì)CuxO;
(5)、以下的步驟都為常規(guī)的單大馬士革工藝步驟,包括沉積阻擋層、籽晶層、電化學(xué)方法鍍銅、退火、化學(xué)機(jī)械拋光、沉積蓋帽層。
4.如權(quán)利要求1所述的CuxO電阻存儲(chǔ)器濕法氧化制備方法與以上電極作為保護(hù)層結(jié)構(gòu)的CuxO電阻存儲(chǔ)器制造工藝集成,具體步驟如下:
(1)、采用常規(guī)的大馬士革銅互連工藝,在溝槽中制作銅引線;
(2)、在所述銅引線上方形成蓋帽層;
(3)、在所述蓋帽層中需要形成存儲(chǔ)器的位置制作出孔洞,而不需要制作存儲(chǔ)器的位置由蓋帽層保護(hù);
(4)、以蓋帽層為掩模將位于所述孔洞底部的銅濕法氧化形成CuxO存儲(chǔ)介質(zhì);
(5)、采用自對(duì)準(zhǔn)方式在孔洞中填充上電極金屬材料;
(6)、采用化學(xué)機(jī)械拋光方法磨除多余的上電極材料,形成上電極位于所述的蓋帽層孔洞中的結(jié)構(gòu),在接下來(lái)的工藝集成過(guò)程中,上電極做為存儲(chǔ)介質(zhì)的保護(hù)層;
(7)、進(jìn)一步采用大馬士革銅互連工藝進(jìn)行后續(xù)工藝步驟,包括在樣品表面制作介質(zhì)層,然后在介質(zhì)層中開出溝槽和通孔,開出通孔的位置在存儲(chǔ)器的上電極上方以及需要與引出連接線的器件上方,接下來(lái)沉積阻擋層、籽晶層、電化學(xué)方法鍍銅、退火、化學(xué)機(jī)械拋光、沉積蓋帽,完成引線制作。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于復(fù)旦大學(xué),未經(jīng)復(fù)旦大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710047974.5/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:一種電熱開水器
- 下一篇:良好密封接口的頂部驅(qū)動(dòng)裝置
- 一種Nd<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-Yb<sub>2</sub>O<sub>3</sub>改性的La<sub>2</sub>Zr<sub>2</sub>O<sub>7</sub>-(Zr<sub>0.92</sub>Y<sub>0.08</sub>)O<sub>1.96</sub>復(fù)相熱障涂層材料
- 無(wú)鉛[(Na<sub>0.57</sub>K<sub>0.43</sub>)<sub>0.94</sub>Li<sub>0.06</sub>][(Nb<sub>0.94</sub>Sb<sub>0.06</sub>)<sub>0.95</sub>Ta<sub>0.05</sub>]O<sub>3</sub>納米管及其制備方法
- 磁性材料HN(C<sub>2</sub>H<sub>5</sub>)<sub>3</sub>·[Co<sub>4</sub>Na<sub>3</sub>(heb)<sub>6</sub>(N<sub>3</sub>)<sub>6</sub>]及合成方法
- 磁性材料[Co<sub>2</sub>Na<sub>2</sub>(hmb)<sub>4</sub>(N<sub>3</sub>)<sub>2</sub>(CH<sub>3</sub>CN)<sub>2</sub>]·(CH<sub>3</sub>CN)<sub>2</sub> 及合成方法
- 一種Bi<sub>0.90</sub>Er<sub>0.10</sub>Fe<sub>0.96</sub>Co<sub>0.02</sub>Mn<sub>0.02</sub>O<sub>3</sub>/Mn<sub>1-x</sub>Co<sub>x</sub>Fe<sub>2</sub>O<sub>4</sub> 復(fù)合膜及其制備方法
- Bi<sub>2</sub>O<sub>3</sub>-TeO<sub>2</sub>-SiO<sub>2</sub>-WO<sub>3</sub>系玻璃
- 熒光材料[Cu<sub>2</sub>Na<sub>2</sub>(mtyp)<sub>2</sub>(CH<sub>3</sub>COO)<sub>2</sub>(H<sub>2</sub>O)<sub>3</sub>]<sub>n</sub>及合成方法
- 一種(Y<sub>1</sub>-<sub>x</sub>Ln<sub>x</sub>)<sub>2</sub>(MoO<sub>4</sub>)<sub>3</sub>薄膜的直接制備方法
- 熒光材料(CH<sub>2</sub>NH<sub>3</sub>)<sub>2</sub>ZnI<sub>4</sub>
- Li<sub>1.2</sub>Ni<sub>0.13</sub>Co<sub>0.13</sub>Mn<sub>0.54</sub>O<sub>2</sub>/Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>復(fù)合材料的制備方法
- 用于控制非易失性存儲(chǔ)器的控制器
- 處理器、存儲(chǔ)器、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、系統(tǒng)LSI及其驗(yàn)證方法
- 存儲(chǔ)和檢索處理系統(tǒng)的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器系統(tǒng)和性能監(jiān)視方法
- 用于控制半導(dǎo)體裝置的方法
- 存儲(chǔ)器存儲(chǔ)裝置及其測(cè)試方法
- 存儲(chǔ)器裝置及可促進(jìn)張量存儲(chǔ)器存取的方法
- 使用雙通道存儲(chǔ)器作為具有間隔的單通道存儲(chǔ)器
- 用于管理存儲(chǔ)器訪問操作的方法和系統(tǒng)
- 存儲(chǔ)器控制器、存儲(chǔ)裝置和存儲(chǔ)裝置的操作方法
- 具有部分組刷新的存儲(chǔ)器





