[發明專利]防電磁輻射屏蔽服屏蔽效能的測試方法

有效

• 申請號: 200710047645.0
• 申請日: 2007-10-30
• 公開（公告）號: CN101424718A
• 公開（公告）日: 2009-05-06
• 發明（設計）人: 黎國棟;許濤芳
• 申請（專利權）人: 上海翰納森制衣有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R29/10
• 代理公司: 上海天翔知識產權代理有限公司
• 代理人: 朱妙春

技術領域

本發明涉及一種防電磁輻射屏蔽服的屏蔽效能的測試方法。

背景技術

防電磁輻射屏蔽服屏蔽效能是屏蔽服測試中最重要的一個參數。傳統方法是在電波暗室中進行測試，但電波暗室的造價昂貴，所用到的儀器價格也很昂貴。

在一些測試場合，已經有用千兆赫橫電磁波小室(GTEM?cell)來代替電波暗室(或開闊試驗場)的嘗試。如授權公告日為2005年7月27日，授權公告號為CN1212521C的中國發明專利，公開了一種用GTEM室做輻射EMI測試的線性法，其中就使用到了GTEM小室。

發明內容

本發明所要解決的技術問題在于提出一種防電磁輻射屏蔽服屏蔽效能的測試方法。

本發明所要解決的技術問題可以通過以下途徑來解決：

防電磁輻射屏蔽服屏蔽效能的測試方法，其特征在于，用一個GTEM小室代替一個半電波暗室或開闊試驗場進行測試。

具體地來說，防電磁輻射屏蔽服屏蔽效能的測試方法，包括以下步驟：

1)、在仿真人需要測試屏蔽效能的部位上安裝接收天線，將所述仿真人放置在所述GTEM小室尾部；將所述接收天線通過電纜與GTEM小室外的接收機連接；將信號發生器通過功率放大器與GTEM小室連接；

2)接通電源，調節所述信號發生器的輸出幅度(注意，不要使功率放大器的輸入過載)和所述功率放大器的增益，使接收機上能讀到大約為-10dB_m的電平；

3)給所述仿真人穿上待測屏蔽服，放置在所述GTEM小室中同一位置，重復步驟1)～2)，將測得的電平減去未穿上屏蔽服時所測得的電平，就是該部位屏蔽服的屏蔽效能。該數值為負數(單位為dB)，習慣上常取正數。

上述兩次測試中，所述信號發生器應保持同一輸出頻率和輸出電平，所述功率放大器保持同一增益。改變所述信號發生器的輸出頻率，再重復步驟1)～3)，就可以得到在不同頻率時屏蔽服某部位的屏蔽效能。

所述GTEM小室尺寸，可視條件而改變。優選地，所述GTEM小室長5m～7.5m，下層高1m～1.6m，總高1.6m～2.4m，寬2.4m～3.6m。所述仿真人和所述待測屏蔽服的尺寸可視GTEM小室的大小，按比例縮減。或采用無頭、少足、半身的仿真人。

所述的仿真人身體各部分的反射系數應和真人一致或相近。這樣，測試結果更為真實可靠。

所述的仿真人是局部的仿真人，如無頭、少足、半身的仿真人。用局部的仿真人代替整個仿真人進行測試，這樣可以減少所需要的測試空間及所述功率放大器的功率(所述GTEM小室的體積也可減小)，大大減少了建造費用及儀器購置費用。

本發明公開的方法免除了電波暗室，代之以一個空間小得多的千兆赫橫電磁波小室(GTEM小室)，所需儀器設備也比原來便宜得多，整個屏蔽服屏蔽效能測試系統的測試設備費用比傳統方法節約得多，僅為傳統方法的1/5～1/10。同時，測試結果的不確定度也有所改善。與電波暗室方案相比，本發明中GTEM和電波暗室具有同樣指標的均勻場(在1×1.5m內有75％區域滿足0～6dB的場均勻性)，但所使用的功率放大器的功率可大大降低。仿真人反射系數和真人一致，故測試結果較真實可靠。

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式來進一步說明本發明。

圖1是實現本發明所述的測試方法的屏蔽服屏蔽效能測試系統的結構示意圖。

具體實施方式

為使本發明實現的技術手段、創作特征、達成目的與功效易于明白了解，下面結合具體實施方式，進一步闡述本發明。

采用的信號發生器為9kHz～1GHz的射頻信號發生器，50Ω阻抗，輸出電平可調，最大輸出電平為1毫瓦(0dB_m)，能輸出正弦波波形。

采用的功率放大器為功率10W，50Ω阻抗，頻率1～1000MHz，增益不低于43dB的功率放大器。

采用的接收機為9kHz～1GHz頻譜分析儀，平均噪聲電平≤-100dB_m，分辨率帶寬100Hz或更小。

采用的接收天線若干根，以適應1～1000MHz不同頻率，可用電小偶極子天線。也可使用磁小偶極子天線測試低頻時的磁場屏蔽效能。

采用的GTEM小室，輸入阻抗50Ω，頻率0-1GHz，輸入電壓駐波比≤1.5，最大輸入功率100W；GTEM小室尺寸：長5m，下層高1m，總高1.6m，寬2.4m。