[發明專利]消除外部磁場對電機干擾的方法

無效

• 申請號: 200710044768.9
• 申請日: 2007-08-10
• 公開（公告）號: CN101132164A
• 公開（公告）日: 2008-02-27
• 發明（設計）人: 吳剛
• 申請（專利權）人: 上海微電子裝備有限公司
• 主分類號: H02P23/00
• 分類號: H02P23/00;H02P23/14;H02P6/00;H02P7/00;G03G21/00
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司
• 代理人: 王潔

1.一種消除外部磁場對電機干擾的方法，通過控制器、測量系統完成，其中電機、控制器、測量系統順序連接，其特征在于，所述的方法包括下列步驟：

(1)測量系統測量電機運動時的數個位置；

(2)將測量系統測得的電機位置反饋給控制器，控制器產生對應電機位置的補償量維持電機勻速運動。

2.如權利要求1所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：所述的補償量由補償數組確定，補償數組由電機位置及控制器在對應上述電機位置且維持電機勻速運動的補償力組成。

3.如權利要求2所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：當所述的電機位置處于補償數組中的兩個相鄰電機位置之間時，利用插值方法在上述兩個相鄰電機位置所對應的補償量中取一個中間值作為補償量。

4.如權利要求2所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：所述的補償數組具有一補償量且由兩個測量數組運算得到，該補償量為其中，f_i、f_i′分別為兩個測量數組中控制器在P_i位置時的控制力。

5.如權利要求2所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：所述的補償數組具有一補償量且由一個測量數組運算得到，該補償量為其中，f_i為控制器在P_i位置時的控制力，V′為電機能勻速運行的最高速度。

6.如權利要求1所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：所述的測量系統包括編碼器和激光干涉儀。

7.如權利要求1所述的消除外部磁場對電機干擾的方法，其特征在于：所述的控制器為比例-積分-微分控制器。