[發(fā)明專利]測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng)無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710044104.2 | 申請(qǐng)日: | 2007-07-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101351008A | 公開(公告)日: | 2009-01-21 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李震 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英華達(dá)(上海)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H04Q7/34 | 分類號(hào): | H04Q7/34;H04M3/24;H04Q7/32 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 壽寧;張華輝 |
| 地址: | 201114上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 測(cè)試 平臺(tái) 除錯(cuò) 方法 及其 手持 裝置 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種適用于測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)的方法,特別是涉及一種適用于手持裝置測(cè)試平臺(tái),可避免計(jì)算機(jī)中指令集發(fā)生錯(cuò)誤可能,更可減輕測(cè)試設(shè)定控制測(cè)試平臺(tái)計(jì)算機(jī)中指令集的負(fù)擔(dān),而能減少整個(gè)測(cè)試過程所需時(shí)間,還可滿足手機(jī)測(cè)試對(duì)多種功能測(cè)試要求的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng)。?
背景技術(shù)
目前,隨著集成電路技術(shù)和寬頻技術(shù)的快速發(fā)展,手機(jī)產(chǎn)業(yè)正在從以全球移動(dòng)通訊系統(tǒng)(GSM)、碼分多址(CDMA)、個(gè)人通訊服務(wù)(PCS)和通用分組無線服務(wù)(GPRS)為代表的2G/2.5G,向基于無線網(wǎng)路寬頻技術(shù)的、融合語音、數(shù)據(jù)和視訊影像的3G轉(zhuǎn)移,并受到移動(dòng)商務(wù)、全球定位服務(wù)、移動(dòng)電子付費(fèi)、移動(dòng)醫(yī)療等諸多移動(dòng)寬頻應(yīng)用業(yè)務(wù)的強(qiáng)勁驅(qū)動(dòng)。然而,針對(duì)技術(shù)越來越復(fù)雜、利潤越來越薄的手機(jī)市場(chǎng),測(cè)試必須快速、靈活和有效才能保證生產(chǎn)線達(dá)到維持利潤的產(chǎn)量,通過采用具有先進(jìn)軟硬件和不同測(cè)試模式的測(cè)試儀器,可以對(duì)各種手機(jī)實(shí)現(xiàn)快速、精確地測(cè)量,因而可以確保3G產(chǎn)品所需的品質(zhì)。?
隨著手機(jī)芯片(晶片)整合度越來越高,手機(jī)正沿著模塊(即模組,以下均稱為模塊)越來越小、功能越來越多的方向發(fā)展,手機(jī)的測(cè)試項(xiàng)目也越來越多,例如在3G手機(jī)的測(cè)試中,需要包括功能測(cè)試、協(xié)議相容性測(cè)試、可用性測(cè)試、互通性測(cè)試、......等等至少10項(xiàng)主要測(cè)試,這尚未包括每一主要測(cè)試項(xiàng)目中的子測(cè)試項(xiàng)目。簡(jiǎn)而言之,要想確保手機(jī)產(chǎn)品所需的品質(zhì),簡(jiǎn)單的通過/失敗測(cè)量是不夠的,除非想冒失去客戶的風(fēng)險(xiǎn)。移動(dòng)電話制造商必須在制造過程中仔細(xì)檢測(cè)任何可能會(huì)影響元件的差錯(cuò)。?
另外,對(duì)制造手機(jī)的業(yè)者而言,擁有多樣化產(chǎn)品而布局出一完整的產(chǎn)品線是相當(dāng)重要的。在不同型號(hào)的手機(jī)之間的測(cè)試,或有相同的測(cè)試項(xiàng)目,或有不同的測(cè)試項(xiàng)目,據(jù)此,為了滿足手機(jī)測(cè)試對(duì)多種功能的測(cè)試要求,應(yīng)認(rèn)真考慮如何整合和配置一套測(cè)試系統(tǒng),去滿足對(duì)手機(jī)測(cè)試設(shè)備的管控,如何選擇測(cè)試工具軟件和標(biāo)準(zhǔn)庫,以適應(yīng)未來發(fā)展的需要等等問題。?
目前,已有針對(duì)單一手機(jī)產(chǎn)品測(cè)試的自動(dòng)化流程控管系統(tǒng),在軟件工程師將測(cè)試控管流程程序(程序即程式,本文均稱為程序)開發(fā)完畢后,測(cè)試工程師需要將測(cè)試控管流程程序安裝至每一條檢測(cè)線的控制計(jì)算機(jī)(計(jì)算?機(jī)即電腦,本文均稱為計(jì)算機(jī))中。接著,測(cè)試工程師必須設(shè)定每一臺(tái)控制計(jì)算機(jī)中測(cè)試控管流程程序的每一個(gè)參數(shù),以確保被測(cè)試的手機(jī)能夠依照一定的流程依序被送入每一測(cè)試站進(jìn)行不同功能的測(cè)試,或是能跳過一些無須測(cè)試的測(cè)試站。如此一來,自動(dòng)化流程控管系統(tǒng)將可使測(cè)試的效率大幅提升,進(jìn)而能縮短測(cè)試時(shí)間和提高測(cè)試機(jī)臺(tái)配置的靈活性。?
然而,測(cè)試工程師在設(shè)定每一臺(tái)控制計(jì)算機(jī)中測(cè)試控管流程程序的參數(shù)時(shí),若設(shè)定錯(cuò)誤但不自知,當(dāng)手機(jī)進(jìn)入測(cè)試站需進(jìn)行A項(xiàng)測(cè)試時(shí),測(cè)試控管流程程序至伺服器卻去抓取B項(xiàng)的測(cè)試資料而出現(xiàn)錯(cuò)誤。在此情形下,輕者整條測(cè)試線停機(jī),重者則測(cè)試線未停機(jī)而繼續(xù)進(jìn)行,但錯(cuò)誤的測(cè)試參數(shù)卻將無法有效的篩選出不良品,以達(dá)成測(cè)試的目的。再者,測(cè)試工程師需要逐一設(shè)定控制計(jì)算機(jī)中的參數(shù),如此不但費(fèi)時(shí),而且更會(huì)增加設(shè)定錯(cuò)誤的可能性。?
由此可見,上述現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng),在方法、系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)及使用上,顯然仍存在有不便與缺陷,而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為解決上述存在的問題,相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道,但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成,而一般測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng)又沒有適切的方法及系統(tǒng)能夠解決上述問題,此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。因此如何能創(chuàng)設(shè)一種新的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng),實(shí)屬當(dāng)前重要研發(fā)課題之一,亦成為當(dāng)前業(yè)界極需改進(jìn)的目標(biāo)。?
有鑒于上述現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng)存在的缺陷,本發(fā)明人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí),并配合學(xué)理的運(yùn)用,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng),能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法及其手持裝置測(cè)試系統(tǒng),使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì),并經(jīng)反復(fù)試作及改進(jìn)后,終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本發(fā)明。?
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于,克服現(xiàn)有的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法存在的缺陷,而提供一種新的適用于測(cè)試平臺(tái)的測(cè)試平臺(tái)的除錯(cuò)方法,所要解決的技術(shù)問題是使其可以有效的避免手動(dòng)設(shè)定測(cè)試平臺(tái)的控制計(jì)算機(jī)中的指令集時(shí)發(fā)生錯(cuò)誤的可能,使其可以減輕測(cè)試工程師設(shè)定控制測(cè)試平臺(tái)的計(jì)算機(jī)中的指令集的負(fù)擔(dān),進(jìn)而能夠減少整個(gè)測(cè)試過程所需的時(shí)間,非常適于實(shí)用。?
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于英華達(dá)(上海)科技有限公司,未經(jīng)英華達(dá)(上海)科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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