[發明專利]基于彈性基底的微電子機械系統探卡制備方法無效
| 申請號: | 200710042311.4 | 申請日: | 2007-06-21 |
| 公開(公告)號: | CN101078738A | 公開(公告)日: | 2007-11-28 |
| 發明(設計)人: | 陳迪;靖向萌;陳翔;朱軍;劉景全 | 申請(專利權)人: | 上海交通大學 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司: | 上海交達專利事務所 | 代理人: | 毛翠瑩 |
| 地址: | 200240*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 彈性 基底 微電子 機械 系統 制備 方法 | ||
1、一種基于彈性基底的微電子機械系統探卡,包括基片(1)、探針(7)和電路引線(5),其特征在于所述基片(1)表面依次涂覆聚二甲基硅氧烷(2)和聚酰亞胺(3)構成彈性基底,彈性基底上布置電路引線(5),探針(7)位于電路引線(5)的頂端,并按照所要測試的芯片引腳的位置陣列排布,探針針尖與相應的芯片引腳位置一一對應,探針(7)底端的電路引線(5)連到外圍通過點焊連接到印刷電路板上,再通過印刷電路板連接到測試機臺。
2、如權利要求1所述的基于彈性基底的微電子機械系統探卡的制備方法,其特征在于包括如下步驟:
1)采用玻璃或者硅片為基片,用去離子水清洗并烘干;然后在基片表面涂覆100-500μm聚二甲基硅氧烷,再在聚二甲基硅氧烷上涂覆50-100μm厚的聚酰亞胺;
2)在聚酰亞胺表面濺射50-150nm的Cr/Cu金屬底膜,然后光刻、電鑄銅或金,制備高度2-20μm、線寬5-100μm的電路引線;
3)在電路引線頂端,涂光刻膠、曝光、顯影后,電鑄金屬鎳,制作高度20-100μm、直徑5-50μm的金屬探針;
4)去除光刻膠,去除聚酰亞胺上的Cr/Cu金屬底膜;
5)采用點焊的方法連接電路引線與印刷電路板。
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