[發明專利]一種測量激光測距系統收發軸配準度的測試裝置和方法

無效

• 申請號: 200710040397.7
• 申請日: 2007-05-08
• 公開（公告）號: CN101059564A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發明（設計）人: 狄慧鴿;方抗美;舒嶸;王建宇
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海技術物理研究所
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08
• 代理公司: 上海新天專利代理有限公司
• 代理人: 郭英

1.一種測量激光測距系統收發軸配準度的測試裝置，包括：光路測試和模擬回波發生器二部分，光路測試部分由二片夾角為90°的第一半透半反鏡(1)和第二半透半反鏡(2)、調整基準光束和測量光束平行的平行光管(9)、CCD攝像頭(10)、衰減入射激光能量的衰減片(8)、調整光束方向的角度微調器(7)組成；

所說的角度微調器(7)由兩對光楔組成，分別安裝在兩個轉臺上，用于光束的水平和垂直調節；

模擬回波發生器由依次成光連接的激光-光纖耦合器(3)、多模光纖(4)、可調光纖衰減器(5)和光纖準直鏡(6)構成。

2.一種利用權利要求1所述裝置測量激光測距系統收發軸配準度的方法，包括下列步驟：

§A.光路調整

將激光測距系統的發射部分發出的激光入射至第二半透半反鏡(2)，由第二半透半反鏡(2)將入射激光分為二路：一路透射光作為基準光依次進入衰減片(8)、平行光管(9)、聚焦在CCD攝像頭(10)上；另一路反射光進入依次成光連接的光纖耦合器(3)、多模光纖(4)、可調光纖衰減器(5)和光纖準直鏡(6)構成的模擬回波發生器，光纖準直鏡(6)輸出的是一束模擬回波激光，該模擬回波激光依次經角度微調器(7)微調透射、第一半透半反鏡(1)和第二半透半反鏡(2)反射、進入衰減片(8)、平行光管(9)、聚焦在CCD攝像頭(10)上；調節角度微調器(7)，觀察CCD攝像頭，當基準光和模擬回波激光在平行光管焦面上重合為同一點，則表明模擬回波激光與基準光平行，并記下角度微調器(7)的初始刻度值；模擬回波激光經第一半透半反鏡(1)的透射光直接進入激光測距系統的接收部分；

§B.對激光測距系統的收發軸配準度進行測試

調節光纖衰減器(5)，將模擬回波能量衰減至激光測距系統接收靈敏度大小；調節角度微調器(7)，以完成回波激光在水平和垂直方向的掃描；根據角度微調器(7)上的刻度可以標定光束偏轉的方向和大小；同時觀察被測系統的輸出情況，記錄被測激光測距系統剛好無輸出時，角度微調器(7)的讀數，記錄水平方向從無到有再到無輸出時兩個讀數，垂直方向從無到有再到無輸出時兩個讀數，分別計算在垂直方向和水平方向兩個讀數的平均值，將此平均值與角度微調器(7)的初始刻度值相比較就可得出激光測距系統的發射軸與接收軸在水平和垂直方向上的偏離。