[發明專利]減小霍爾集成電路失調電壓方法及其裝置有效
| 申請號: | 200710039676.1 | 申請日: | 2007-04-19 |
| 公開(公告)號: | CN101290946A | 公開(公告)日: | 2008-10-22 |
| 發明(設計)人: | 管慧;陳俊 | 申請(專利權)人: | 上海鉅勝微電子有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/22 | 分類號: | H01L27/22 |
| 代理公司: | 上海東方易知識產權事務所 | 代理人: | 沈原 |
| 地址: | 201108上海市閔*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 減小 霍爾 集成電路 失調 電壓 方法 及其 裝置 | ||
1.一種減小霍爾集成電路失調電壓方法,其特征在于,將霍爾單元 陣列位于芯片的中心部分,其他為霍爾單元服務的電路器件置于霍爾 單元陣列的周圍,并將霍爾單元陣列中的霍爾單元并聯聯接,每個霍 爾單元的周邊被重摻雜所形成的隔離帶和外延層所包圍。
2.一種裝置,使用如權利要求1所述的減小霍爾集成電路失調電壓 方法,該裝置包括一半導體P型基層襯底,以及在半導體P型基層襯 底上生長輕摻雜的半導體N型外延層,其特征在于:在半導體N型外 延層上還置有被重摻雜的半導體P型隔離帶,該隔離帶將半導體N型 外延層分割成至少三塊孤立的霍爾單元,且霍爾單元呈中心對稱排列 的陣列,各霍爾單元之間并聯聯接。
3.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述的霍爾單元的周 邊還被外延層所包圍。
4.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述的霍爾單元的周 邊置有其他為霍爾單元服務的電路器件。
5.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述的霍爾單元形狀 為平面幾何形狀。
6.根據權利要求5所述的裝置,其特征在于,所述的霍爾單元為矩 形或平行四邊形或三角形或扇形或圓形。
7.根據權利要求2所述的裝置,其特征在于,所述的霍爾單元的周 邊還置有能使其性能趨于均衡的缺口。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





