[發(fā)明專利]防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710039433.8 | 申請日: | 2007-04-12 |
| 公開(公告)號: | CN101285188A | 公開(公告)日: | 2008-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉圣剛;賈敏 | 申請(專利權(quán))人: | 上海宏力半導(dǎo)體制造有限公司 |
| 主分類號: | C23F3/03 | 分類號: | C23F3/03;B24B1/00;B08B3/08 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所 | 代理人: | 余明偉 |
| 地址: | 201203上海市浦東*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 防止 cmp 過程 產(chǎn)生 鉆石 刮痕 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,特別涉及一種利用堿性溶液防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法。
背景技術(shù)
拋光是將一物體表面與一拋光墊接觸,并進行相對運動使產(chǎn)生磨擦,進而損耗該物體表面成份。由于壓力集中在表面突出部分,使得該處的物質(zhì)耗損率較快,因此經(jīng)過一段時間后,可使物體表面具有平坦化(planarization)的效果。拋光墊經(jīng)使用一段時間后,會產(chǎn)生特性劣化,因此往往需要一拋光整理器,來去除拋光墊上微細孔內(nèi)的拋光殘留物,以便使拋光符合再現(xiàn)性(repeatability)和穩(wěn)定性(stability)的要求。
但是,在鎢的CMP工藝中,主要是利用拋光墊與含有鐵氰化鉀、硝酸鐵、碘酸鉀和過氧化氫等成分所組成的酸性拋光漿料,來同時以化學(xué)反應(yīng)和機械式拋光等雙重的加工動作,進行晶片表面的平坦化處理,但是該呈現(xiàn)腐蝕性的拋光漿料將對后續(xù)對拋光墊表面進行整理的拋光整理器金屬基底造成腐蝕,而導(dǎo)致拋光整理器的外觀與鉆石砥粒的損耗,更者,因腐蝕所掉落于拋光墊上的鉆石,將導(dǎo)致后續(xù)進行拋光的晶片表面上產(chǎn)生刮痕。
因此本發(fā)明針對上述問題而提出一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,以避免腐蝕性拋光漿料對拋光整理器的侵蝕,更可以降低脫落的鉆石砥粒于晶片拋光過程于晶片表面產(chǎn)生細微刮傷的機率。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于,提供一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,其能夠避免酸性腐蝕拋光漿料對拋光整理器造成腐蝕,進而避免鉆石砥粒脫落而殘留于拋光墊表面上的情況,有效地降低拋光晶片被脫落的鉆石砥粒刮傷的機率。
本發(fā)明的另一目的在于,提供一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,其能夠降低拋光整理器上的鉆石砥粒脫落于拋光墊上,進而有效的延長拋光墊的使用壽命。
本發(fā)明的又一目的在于,提供一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,其能夠有效的延長拋光整理器的使用壽命,進而降低成本。
本發(fā)明為一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,其包括有有下列步驟于一利用一酸性拋光漿料來完成化學(xué)機械拋光的拋光墊上噴涂于一堿性溶液;以一拋光整理器對拋光墊進行表面整理;以及以一去離子水沖洗拋光墊表面,以移除拋光墊表面的堿性溶液與其它雜物。
本發(fā)明可有效地避免了酸性拋光漿料對鉆石整理器產(chǎn)生侵蝕的機會,進而降低鉆石整理器的鉆石砥粒脫落的可能性,使后續(xù)進行CMP工藝的晶片能夠免于產(chǎn)生鉆石刮痕。
以下結(jié)合附圖及實施例進一步說明本發(fā)明。
附圖說明
圖1為拋光墊的纖維縫隙內(nèi)殘留有酸性拋光液的示意圖;
圖2為本發(fā)明的步驟流程圖;
圖3為本發(fā)明的堿性溶液與拋光墊上的殘留酸性拋光墊產(chǎn)生反應(yīng)的示意圖。
標號說明
1拋光墊
12酸性溶液
14纖維縫隙
16堿性溶液
具體實施方式
本發(fā)明關(guān)于一種防止CMP過程中產(chǎn)生鉆石刮痕的方法,其可被廣泛地應(yīng)用到半導(dǎo)體工藝中各種材料的CMP(chemical?mechanical?polish)工藝后的拋光墊整理,因此本發(fā)明于此舉一較佳實施例,對鎢金屬層進行CMP工藝為一實施例來說明本發(fā)明,該領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)知道本實施例中的許多技術(shù)特征是可以變換的,例如拋光漿料的化學(xué)成分、拋光板的形狀設(shè)計與材料等,但這些等同變換無疑地不脫離本發(fā)明的精神及范疇。
鎢金屬層的CMP工藝主要利用拋光墊與含有鐵氰化鉀、硝酸鐵、碘酸鉀和過氧化氫等成分所組成的酸性拋光漿料,來同時對鎢金屬層進行化學(xué)反應(yīng)和機械式拋光等雙重的加工動作,以達到平坦化的處理,但是隨著對鎢金屬層拋光完畢后,該呈現(xiàn)腐蝕性的拋光漿料12將殘留于拋光墊1的纖維縫隙14內(nèi),請參閱圖1所示,但這樣的殘留酸性拋光料將對后續(xù)用以對拋光墊進行整理的鉆石整理器產(chǎn)生腐蝕,此乃因鉆石整理器基底的材料主要為鎳-鉻合金(Ni-Cr)為主,導(dǎo)致拋光整理器的外觀與鉆石砥粒脫落于拋光墊上,而造成后續(xù)進行拋光的晶片表面上產(chǎn)生刮痕。
因此,請參閱圖2,其為本發(fā)明的步驟流程示意圖,本發(fā)明是于已完成化學(xué)機械拋光工藝的拋光墊以鉆石整理器進行整理前,如步驟S1所示,先于拋光墊表面噴涂一堿性溶液,該堿性溶液16將與位于纖維縫隙14內(nèi)的酸性溶液12產(chǎn)生中和,如圖3所示,進而能夠有效的改變原本呈現(xiàn)酸性(PH<7)的拋光墊表面,使拋光墊表面呈現(xiàn)堿性(PH>7)。其中該堿性溶液16可以為氨水(NH4OH)或者是氫氧化鉀(KOH)。
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