[發明專利]無需調整副光束角度的光盤裝置的光拾取器

無效

• 申請號: 200710036933.6
• 申請日: 2007-01-30
• 公開（公告）號: CN101236753A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 鄭成潤
• 申請（專利權）人: 上海樂金廣電電子有限公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/095
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 任永武

技術領域

本發明涉及一種無需調整副光束角度的光盤裝置的光拾取器，尤其涉及到不受光盤上副光束角度或磁軌間隔影響，能夠進行穩定跟蹤伺服的裝置。

背景技術

一般來說，為了在光盤內的特定存儲磁軌上形成正確的聚光點，光拾取器能夠檢測出聚焦錯誤和跟蹤錯誤信號，并利用上述錯誤信號控制對物透鏡的位置。為了檢測出跟蹤錯誤信號可以使用多種方法，現在在CD-ROM用拾取器信號檢測方法中使用最多的是三光束方法。這是指利用衍射柵將1個激光分為三種光束。將其中的一個光束作為主光束，其余兩束副光束沿磁軌線方向只避開約磁軌螺紋距的1/4(0.4μm)進行對照。三個光束的反射光被分別引導入各自的受光元件。

主光束的總和信號便成為播放信息信號。同時，聚焦(焦點)跟蹤伺服用的聚焦誤差信號雖然有很多方式，但是，普通的沸點數差方法如下：將反射光光路中帶有的透鏡等引起的沸點數差的光學元件分為四份，并檢測出其對角和的差。

圖1a和圖1b是利用三光束法檢測出跟蹤錯誤的方法。

磁軌跟蹤伺服用的跟蹤誤差信號利用副光束的平均強度差便能夠檢測出來。其原理如圖1a所示，當某光束照射到磁軌中心時，凹坑的調制最深，當照射到磁軌和磁軌中間時，凹坑的調制最淺。因此，平均級別在磁軌中心最低，在磁軌之間時最高。主光束照射到磁軌中心時，副光束的平均級別與其中一側相同。當主光束的磁軌偏離1.4磁軌螺紋距照射時，其中一側的副光束位于磁軌中心，一側的副光束在磁軌中間。因此，此時，副光束的平均級別差最大。這樣，如果從主光束的磁軌中心沿橫軸取偏差量，跟蹤誤差信號便能夠從正形波上獲得。

如果仍然使用這種CD-ROM用拾取器，利用高電壓生成激光的話，便能夠與CD-R/RW用的拾取器相同，但是實際情況并非如此。

在存儲過程中，因為形成主光束的凹坑(標記)，先到的副光束的反射光量仍然高，后面的副光束反射光量便很低。因此，即使主光束照射到磁軌中心，副光束光量差的跟蹤誤差信號仍然不為0。換句話說，跟蹤誤差信號如果為0，則必須離開磁軌中心。這樣，光束便不能伺服到磁軌中心，所以便會造成使用不當。

同時，一般來說，CD-R/RW，MO，PD等光存儲拾取器檢測出跟蹤誤差，多被稱為推挽。

在推挽法中，反射光束與磁軌(凹點)平行，利用二等分受光元件獲取其差。其原理如下：光束被凹點衍射，便能獲得其反射光的強度樣式分布的變化。即，當光束在磁軌中心時，強度樣式分布雖然為左右平均，但是如果偏離磁軌中心，便被不對稱使用。因此，與三光束時相同，在磁軌中心能夠獲得為0的正形波樣式的跟蹤誤差信號。

因為推挽法利用一個光束來完成，所以在存儲過程中也能夠正確檢測出跟蹤誤差。因此，它經常被存儲用拾取器所使用。但是，在推挽法中，如果用于跟蹤的對物透鏡移動或光盤傾斜，受光元件上的光束偏離的話，光束即使處于磁軌中心，誤差信號也無法為0。

但是，在上述一光束推挽中會產生抵消。因此，三光束的副光束只要避開磁軌進行推挽，除去主光束的推挽便是差動推挽法。這樣，因為主光束和副光束中帶有相同量的抵消，所以如果找到其差便能夠抵消。同時，推挽在主光束和副光束具有相反的極性，所以如果找出其差便是兩倍。

該差動推挽(DPP)法利用被稱為光柵的衍射元件將激光發出的光分為0差光和±1差光等三個光束，從0差光中檢測出推挽信號，該信號被稱為主推挽(MPP)信號。從±1差光中檢測出的推挽信號被稱為子推挽(SPP)，調整光柵的角度，0差光的主光束照射到光盤磁軌的凹點上時，±1差光的副光束如果照射到凸點上，MPP和SPP便會產生相反的相位。另一方面，因對物透鏡輻射移位或傾斜等產生抵消的符號為MPP或SPP，因為全部在同一方向發生，所以如果用DPP＝MPP-k?SPP(k：比例常數)來計算便只剩下推挽信號了。抵消量便能夠得到所需要除去的信號。

該DPP法是對現有的一光束推挽法的改良方法，如上所述，除去因對物透鏡輻射移位或傾斜所引起的抵消，便能夠檢測出穩定的跟蹤信號。

但是，為了使用該DPP方法，便需要調整±1差光的副光束角度。當然，在一種光盤上進行存儲和播放雖然不是什么大問題，但是，隨著光盤規格的多樣化，也產生了許多具有不同磁軌螺紋距的光盤。