[發明專利]一種密閉中熔融態物料形態的層析圖像測量方法無效
| 申請號： | 200710026437.2 | 申請日： | 2007-01-19 |
| 公開（公告）號： | CN101008623A | 公開（公告）日： | 2007-08-01 |
| 發明（設計）人： | 李禮夫 | 申請（專利權）人： | 華南理工大學 |
| 主分類號： | G01N23/04 | 分類號： | G01N23/04;G06T5/00;G06T7/00;G06K9/36 |
| 代理公司： | 廣州粵高專利代理有限公司 | 代理人： | 何淑珍 |
| 地址： | 510640廣東*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 密閉 熔融 物料 形態 層析 圖像 測量方法 | ||
【說明書】：
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