[發明專利]微電子器件恒定加速度的檢測方法無效
| 申請號： | 200710025509.1 | 申請日： | 2007-08-01 |
| 公開（公告）號： | CN101358991A | 公開（公告）日： | 2009-02-04 |
| 發明（設計）人： | 朱衛良 | 申請（專利權）人： | 中國電子科技集團公司第五十八研究所 |
| 主分類號： | G01P15/02 | 分類號： | G01P15/02 |
| 代理公司： | 無錫盛陽專利商標事務所（普通合伙） | 代理人： | 顧吉云 |
| 地址： | 214028江*** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 微電子 器件 恒定 加速度 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.微電子器件恒定加速度的檢測方法，其特征在于：在直貼式夾具的底部鋪一些細砂，然后在砂的上面鋪橡膠薄膜，待檢測的器件帖于薄膜并與薄膜固定，再將夾具安裝于離心機進行試驗。
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