[發(fā)明專利]淺結(jié)二極管芯片的制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710025364.5 | 申請日: | 2007-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN101110364A | 公開(公告)日: | 2008-01-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 劉利峰;王曉寶;趙善麒 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇宏微科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/329 | 分類號: | H01L21/329 |
| 代理公司: | 常州市維益專利事務(wù)所 | 代理人: | 賈海芬 |
| 地址: | 213022江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 二極管 芯片 制作方法 | ||
1.一種淺結(jié)二極管芯片的制作方法,其特征在于:
(1)、氧化、光刻有源區(qū):將拋光硅片進行清潔處理后進行氧化形成氧化層,在硅片的一面或雙面經(jīng)光刻、腐蝕形成有源區(qū)窗口;
(2)、離子注入:用離子注入機將砷原子或磷原子注入到有源區(qū)窗口,注入能量為:30~80kev,注入劑量1~5E15;
(3)、多晶硅淀積:在硅片表面淀積多晶硅層,淀積厚度控制在4000±500;
(4)、離子注入退火及磷擴散:將硅片推入800℃~950℃的磷擴散爐內(nèi)進行磷擴散,同時進行離子注入退火,時間控制在10~30min;
(5)、光刻多晶硅:經(jīng)光刻、腐蝕把有源區(qū)窗口以外的多晶硅層刻干凈;
(6)、金屬膜淀積:對硅片濺射或蒸發(fā)金屬膜;
(7)、光刻有源區(qū):光刻、腐蝕掉有源區(qū)以外的金屬膜;
(8)、合金:在真空或在氮氣或/和氫氣的條件下進行合金,合金溫度控制在400℃~500℃,時間在25~35min,制成二極管芯片。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的淺結(jié)二極管芯片的制作方法,其特征在于:所述第一次氧化層的厚度在2000~4000。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的淺結(jié)二極管芯片的制作方法,其特征在于:所述的金屬膜為鈦和鎳和銀;或釩和鎳和銀;或鉻和鎳和銀;或鈦和銀;或金;或鎳。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于江蘇宏微科技有限公司,未經(jīng)江蘇宏微科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710025364.5/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





