[發明專利]多通道散射反演微顆粒三維形狀檢測儀及檢測方法

無效

• 申請號: 200710022257.7
• 申請日: 2007-05-10
• 公開（公告）號: CN101055241A
• 公開（公告）日: 2007-10-17
• 發明（設計）人: 邵士勇;姚永幫;朱文越;饒瑞中
• 申請（專利權）人: 中國科學院安徽光學精密機械研究所
• 主分類號: G01N15/14
• 分類號: G01N15/14;G01N21/51
• 代理公司: 安徽合肥華信知識產權代理有限公司
• 代理人: 余成俊

1.多通道散射信息反演微顆粒三維形狀檢測方法，其特征在于包括以下步驟：

(1)、設計一個散射腔體，其內表面經過發黑處理，散射腔體的外壁分布有數光纖插孔，光纖插孔內安裝有采樣光纖，散射腔體上方聯通有進樣粒子束的入射管，其下方聯通有位于同一軸線上的進樣粒子束的出射管，進樣粒子束的入射管的側壁上有鞘流管，散射腔體的側壁上安裝有多個可調制半導體激光調制器，各個激光調制器的出射光路均相交于從所述的入射管進入散射腔體內的進樣粒子束，每個激光調制器的對面安裝有光吸收管；

(2)、用純凈空氣吹掃散射腔體內部，直到沒有對實驗帶來影響的顆粒為止，調節散射腔體頂部的進樣器的氣流量，配合鞘流，使兩者的比例達到1∶6左右，產生沿軸心線直線飛行的單顆粒微粒子流；

(3)、可調制半導體激光調制器發出650nm的光束，調制后的激光束進入散射腔，顆粒的光散射信號被分布在散射腔體內壁上的光纖在不同的位置同時收集；

(4)、光纖束的出光口依次排布在ICCD的感光面上，散射光信號經ICCD變為脈沖電信號，如果該位置處光纖收集的散射信號和某一尺度的球形顆粒在該位置處的散射信號相同，該散射信號由Mie散射理論得出，則認為是顆粒該位置對應的尺度大小，這樣數個光纖位置的就形成了數個代表半徑大小的點，將這些點連接起來，就形成了顆粒的三維形狀。