[發明專利]工業數字射線成像檢測最優透照參數系統建立方法

有效

• 申請號: 200710014672.8
• 申請日: 2007-05-25
• 公開（公告）號: CN101109627A
• 公開（公告）日: 2008-01-23
• 發明（設計）人: 孔凡琴
• 申請（專利權）人: 孔凡琴;陳仁富
• 主分類號: G01B15/02
• 分類號: G01B15/02;G01T1/29
• 代理公司: 濟南圣達專利商標事務所
• 代理人: 張勇

1.一種工業數字射線成像檢測最優透照參數系統建立方法，它的方法為，

(1)確定要在數字射線檢測系統上進行檢測的工件厚度d，單位為mm，若不是鋼，則進行等效鋼厚轉換；

(2)在成像系統上，以被檢測工件厚度d為自變量，建立橫坐標軸；以透照電壓U即X-射線機電壓為因變量，建立縱坐標軸，形成形式為：U(Kv)～d(mm)關系的曲線；該曲線中每一個數據對(U，d)處，皆根據試驗獲取軟射線濾波參數、散射線屏蔽、透照電流、焦距、校正參數、透照時間的最佳值，要求在成像系統上按照上述參數對工件進行透照檢測，可使被檢測工件的成像質量達到膠片照相的最高級B級；

(3)以該系統上當前被檢測物體的厚度d，按照(2)獲得對應的透照電壓U，以U為自變量建立橫坐標軸；再根據數字探測器亮場建模所規定的灰度閾值，利用(2)中對應的軟射線濾波參數、透照時間、焦距，在探測器空屏透照下根據試驗獲得系統建模電流I_m，以I_m為因變量建立縱坐標軸，形成成像系統建模透照參數選擇參考曲線U(Kv)～I_m(mA)；

(4)擬合(2)和(3)中的曲線，獲得相應的最優透照參數和建模參數數學表達式；

(5)根據(2)和(3)建立的最優透照參數，成像系統在對工件進行數字成像檢測前，首先根據被檢測工件的厚度d，按照(2)確定透照電壓、軟射線濾波參數、焦距參數值，被調整到待準備校正狀態；再通過d對應的透照電壓U，根據(3)中的建模透照電流I_m，對處于待校正的成像系統進行校正并建立校正模型；

(6)對處于已被校正狀態的系統，在探測器前放置被檢測工件，并按照(2)中的射線屏蔽參數、透照時間參數、透照電流參數對工件進行透照成像，得到的即為符合B級檢測質量要求的工件數字圖像。

2.根據權利要求1所述的一種工業數字射線成像檢測最優透照參數系統建立方法，其特征是所述步驟(2)中透照電流取當前電壓下的接近飽和值；透照時間由探測器規定的幀頻和圖像疊加平均的次數以及檢測效率要求共同決定；系統建模得到的圖像灰度要滿足閾值要求。

3.根據權利要求1所述的一種工業數字射線成像檢測最優透照參數系統建立方法，其特征是所述步驟(3)中的對系統進行建模校正時，成像系統上不放置被檢測工件。