[發明專利]一種二階非線性光學測試系統

有效

• 申請號: 200710008880.7
• 申請日: 2007-04-26
• 公開（公告）號: CN101295117A
• 公開（公告）日: 2008-10-29
• 發明（設計）人: 鄒建平;張戈;黃呈輝;郭國聰
• 申請（專利權）人: 中國科學院福建物質結構研究所
• 主分類號: G02F1/35
• 分類號: G02F1/35
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種二階非線性光學測試系統，本系統包括OPO光源(1)，樣品室(2)，陣列探 測器(4)，其特征在于：樣品臺可以精確平移和轉動，該系統在樣品室(2)與陣列 探測器(4)之間放置譜儀(3)，將激光激發樣品產生的倍頻光及其它光效應產生的 非倍頻光分開，在譜儀(3)后采用陣列探測器(4)探測倍頻光，當激光激發樣品產 生的光信號全部經過譜儀分光后，選定激發激光波長的一半位置作為陣列探測 器（4）的探測中心，該系統設置多通道數字延遲脈沖發生器(5)，用于協調控制 OPO光源、陣列探測器和譜儀。

2.如權利要求1所述的二階非線性光學測試系統，其特征在于：該系統設置儀器 控制及數據采集與分析平臺(6)。

3.一種權利要求1的二階非線性光學測試系統的用途，其特征在于：該系統用于 材料的紫外、可見、紅外二階非線性光學測試。

4.一種權利要求3所述的二階非線性光學測試系統的用途，其特征在于：所述的 材料的形態包括粉末和單晶體。