[發明專利]用于支撐光學元件的裝置、激光掃描器和圖像形成設備無效
| 申請號: | 200710005510.8 | 申請日: | 2007-02-09 |
| 公開(公告)號: | CN101097291A | 公開(公告)日: | 2008-01-02 |
| 發明(設計)人: | 方斗辰 | 申請(專利權)人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | G02B26/10 | 分類號: | G02B26/10;G03G15/00;G03G15/04 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產權代理有限公司 | 代理人: | 郭鴻禧;安宇宏 |
| 地址: | 韓國京畿道水*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 支撐 光學 元件 裝置 激光 掃描器 圖像 形成 設備 | ||
技術領域
本發明涉及一種激光掃描器。更具體地講,本發明涉及一種更精確并更穩固地安裝用于使從光源發射出的光束反射或者透過的光學元件的光學元件支撐裝置,和一種分別具有該光學元件支撐裝置的激光掃描器以及一種圖像形成設備。
背景技術
通常,圖像形成設備例如激光打印機、復印機、掃描儀和多功能機包括激光掃描器。激光掃描器由多棱鏡沿著預定的方向偏斜地掃描從光源發射出的光束,并使掃描的光束經光學系統影像到感光體上,所述多棱鏡以高速旋轉。
圖1是示意性地舉例說明激光掃描器的透視圖。如圖1所示,激光掃描器100包括光源單元110、柱面透鏡120、多棱鏡130、用于驅動多棱鏡的驅動電機140、成像透鏡150、反光鏡160和用于支撐光學元件110、120、130、150和160的光學框架101。
從光源單元110發射出的光束通過柱面透鏡120集中到多棱鏡130的反射表面上,通過多棱鏡130以均勻的速度偏斜地反射,然后經成像透鏡150和反光鏡160影像到感光介質(未示出)上。
為了精確地使光束反射或者透過,需要將上述光學元件中的例如反光鏡160或者透鏡150和120以精確的角度和精確的方向裝配并固定,所述光學元件以預定角度安裝以使光束反射和透過。
圖2是舉例說明安裝在光學框架101中的反光鏡160的透視圖。
如圖2所示,反光鏡160在其表面160a和160b被固定,并且被安裝在支撐裝置200上,該支撐裝置200設置在光學框架101中。
支撐裝置200包括用于支撐反光鏡160的反光表面160a的第一支撐單元210以及用于支撐反光鏡160的下表面160b的第二支撐單元220。
第一支撐單元210和第二支撐單元220分別設置有用于支撐反光鏡160的反光表面160a的第一支撐表面211和用于支撐反光鏡160的下表面160b的第二支撐表面221。
此外,第一支撐表面211和第二支撐表面221被分別構造成使支撐突起211a和221a沿著支撐表面211和221的縱向延伸,從而精確地支撐反光鏡160的反光表面160a和下表面160b。
特別是在支撐突起211a和221a中,應該非常精確地形成尺寸,例如傾斜角度、豎直長度和水平長度。當沒有精確地形成支撐突起211a和221a的尺寸時,反光鏡160的安裝方向或者安裝角度可偏離設計公差,導致產品的可靠性變差。
因此,圖2中示出的傳統的支撐裝置需要高價格的測量設備,使得這樣的測量工作很難并且麻煩,該測量設備用于測量支撐突起211a和221a和/或支撐表面211和221的傾斜角度。此外,傳統的支撐裝置不能準確地確定從光源傳送的光束被反射或者透過的位置。結果,當不指定反射或者透過的位置時,激光掃描器就不能展示期望的性能。
因此,需要存在一種用于使光學元件準確地定位和定向的改進的支撐裝置。
發明內容
本發明的示例性實施例在于解決至少上面的問題和/或缺點,并且提供至少以下描述的優點。因此,本發明特定示例性實施例的一方面在于提供一種支撐光學元件的裝置,該裝置能夠在更準確的位置以更準確的方向安裝使從光源發射出的光束反射或透過的光學元件。
本發明特定示例性實施例的另一方面在于提供一種用于支撐光學元件的裝置,該裝置便于支撐單元的尺寸測量,可在該支撐單元上穩固地支撐并安裝光學元件。
本發明特定示例性實施例的另一方面在于提供一種分別包括具有上述特征的用于支撐光學元件的裝置的激光掃描器和圖像形成設備。
根據本發明示例性實施例的一方面,一種用于支撐光學元件的裝置包括:支撐表面,用于在特定方向支撐光學元件;位于支撐表面中的至少一個水平參考表面和至少一個豎直參考表面。
邊緣部分、斜面部分或者圓形部分可位于所述水平參考表面和豎直參考表面相交的位置。
光學元件可以是反光鏡,所述水平參考表面和豎直參考表面可以是用于測量反光鏡的反光點的參考表面。
根據本發明另一示例性實施例的一方面,用于支撐光學元件的裝置包括:主體;支撐表面,位于主體中并且相對于主體傾斜一定角度;位于支撐表面中的第一水平參考表面和第一豎直參考表面。
所述主體還可包括用于測量支撐表面的傾斜角度的第二水平參考表面和第二豎直參考表面。邊緣部分可位于所述第一水平參考表面和所述第一豎直參考表面相交的位置。
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