[發明專利]一種電子組件測試分類裝置

有效

• 申請號: 200710002810.0
• 申請日: 2007-02-01
• 公開（公告）號: CN101236223A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 楊家彰;林錫義
• 申請（專利權）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫皓晨

1.?一種電子組件測試分類裝置，其特征在于：其包含：

供料匣，其承置有待測的電子組件；

收料匣，其接收承置測試完的電子組件；

空匣，其接收與提供空的料盤；

測試區，其裝設具有測試座的測試板，并在測試座的上方對應設有升降的下壓測試頭；

轉運機構，其設置對應在各測試區的測試座位置，其具有載臺，所述的載臺滑移在機臺的換料處與測試座間，以運送待測與測試完的電子組件；

輸送機構，其是具有取放器，并移動在供料匣、收料匣與轉運機構間的區域，以輸送待測與測試完的電子組件，另設有一取放器，用以移載空的料盤。

2.?根據權利要求1項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的供料匣設有堆棧區與暫置區，在堆棧區升降與水平載送輸出承置有待測電子組件的料盤至暫置區以供取料；而收料匣是細分有不同等級的收料匣，以儲放測試完的不同等級電子組件，各收料匣是設有堆棧區與暫置區，在暫置區水平載送輸入承置有測試完電子組件的料盤至堆棧區，以供堆棧收置測試完電子組件的料盤，又所述的空匣是設有堆棧區與暫置區，而在暫置區接收并水平載送輸入空的料盤至堆棧區，以及在堆棧區提供并水平載送輸出空的料盤至暫置區。

3.?根據權利要求1項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的測試區的下壓測試頭為將待測電子組件取置在測試座中，并下壓以執行測試作業的取放器，而轉運機構是具有至少一供料載臺與收料載臺，并在側方設置有預熱匣，以在需要時對待測的電子組件進行預熱的作業。

4.?根據權利要求1項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的測試區是平行排列設置在機臺前端位置與分置在機臺兩側位置，而分置在機臺兩側的測試區是與平行排列設置的測試區呈反向設置。

5.?一種電子組件測試分類裝置，其特征在于：其包含：

供料匣，其設有堆棧區與暫置區，堆棧區是升降位移盛裝有待測電子組件的料盤，暫置區則供取料；

收料匣，其是設有暫置區與堆棧區，暫置區是接收承置測試完的電子組件，堆棧區則升降位移盛裝有測試完電子組件的料盤；

空匣，其是設有暫置區與堆棧區，暫置區是接收承置空的料盤，堆棧區則升降位移提供空的料盤；

測試區，其是裝設具測試座的測試板，并在測試座的上方對應設有升降的下壓測試頭；

轉運機構，其設置對應在各測試區的測試座位置，是具有載臺，所述的載臺滑移在機臺的換料處與測試座間，以運送待測與測試完的電子組件；

輸送機構，其是具有取放器，并移動在供料匣、收料匣與轉運機構間的區域，以輸送待測與測試完的電子組件，另設有一取放器，用以移載空的料盤。

6.?根據權利要求5項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的供料匣是在堆棧區升降并水平載送輸出承置有待測電子組件的料盤至暫置區以供取料；而收料匣是細分有不同等級的收料匣，以儲放測試完的不同等級電子組件，各收料匣是在暫置區水平載送輸入承置有測試完電子組件的料盤至堆棧區，以供堆棧收置測試完電子組件的料盤，又所述的空匣是在暫置區水平載送輸入空的料盤至堆棧區。

7.?根據權利要求5項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的空匣在暫置區水平載送輸入的空的料盤。

8.?根據權利要求5項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的測試區的下壓測試頭為將待測電子組件取置在測試座中，并下壓以執行測試作業的取放器，而所述的轉運機構是具有至少一供料載臺與收料載臺，并在側方對應設置有預熱匣，以在需要時對待測的電子組件進行預熱的作業。

9.?根據權利要求5項所述的電子組件測試分類裝置，其特征在于：所述的測試區是平行排列設置在機臺前端位置與分置在機臺兩側位置，而所述的分置在機臺兩側的測試區是與平行排列設置的測試區呈反向設置。