[發(fā)明專利]測試內(nèi)部時延的方法和處理數(shù)據(jù)幀的裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710002651.4 | 申請日： | 2007-01-24 |
| 公開（公告）號： | CN101013932A | 公開（公告）日： | 2007-08-08 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 涂君 | 申請（專利權(quán)）人： | 華為技術(shù)有限公司 |
| 主分類號： | H04L1/00 | 分類號： | H04L1/00;H04L12/26;H04L12/56;H04L7/033 |
| 代理公司： | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 逯長明 |
| 地址： | 518129廣東省*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 測試 內(nèi)部 方法 處理 數(shù)據(jù) 裝置 | ||
【說明書】：
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