[發明專利]電子組件移載裝置及方法

有效

• 申請號: 200710002488.1
• 申請日: 2007-01-29
• 公開（公告）號: CN101234704A
• 公開（公告）日: 2008-08-06
• 發明（設計）人: 張簡榮力
• 申請（專利權）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: B65G37/00
• 分類號: B65G37/00;B65G47/91;G01N35/02;G01R31/28;H01L21/66
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫皓晨

技術領域

本發明涉及的是一種運載裝置以及方法，特別涉及的是一種利用架置在作業站上方并可作三軸向滑移作動的第一移載取放器與第二移載取放器，以將電子組件輪替移載至作業站，并以穩定的水平度將電子組件置入作業站執行作業，達到易于制作與提升作業質量的電子組件移載裝置與方法。

背景技術

請參閱圖1、圖2、圖3，其為臺灣專利申請第93110783號『IC檢測裝置(二)』專利案，所述的檢測裝置包含有測試臺10、第一、二取料機構20、30與入、出料機構40、50，其中，所述的測試臺10的兩側設有第一、二取料機構20、30，各取料機構均設有相互組裝的橫移結構與升降結構，各橫移結構是在機架上設有橫向滑軌21、31與橫向螺桿22、32，而橫向螺桿22、32由馬達23、33驅動，一具有螺套241、341與橫向滑座242、342的滑動件24、34，是滑置且螺合在橫向滑軌21、31與橫向螺桿22、32上，并在另面設有縱向滑座243、343，而升降結構是在一底面具吸嘴的取料器25、35側面設有縱向滑軌251、351，以滑置在滑動件24、34的縱向滑座243、343中，所述的橫移結構另在取料器25、35的頂面設有一橫向滑座252、352，以滑置在一支架26、36的橫向滑軌261、361上，而升降結構并在所述的支架26、36的另面設有二縱向滑座262、362與一螺套263、363，以分別組裝在機架的縱向滑軌27、37與縱向螺桿28、38上，而縱向螺桿28、38由一馬達29、39驅動，進而當各橫移結構的馬達23、33驅動橫向螺桿22、32時，即帶動滑動件24、34的橫向滑座242、342與取料器25、35的橫向滑座252、352，在機架的橫向滑軌21、31與支架26、36的橫向滑軌261、361上作X方向往復位移，而當各升降結構的馬達29、39驅動縱向螺桿28、38時，即帶動支架26、36的縱向滑座262、262與取料器25、35的縱向滑軌251、351，在機架的縱向滑軌27、37與滑動件24、34的縱向滑座243、343上作Z方向往復位移，另所述的入料機構40與出料機構50是分別設在測試臺10的前、后方，各設有一具載臺41、51的載臺結構，用以載送IC，與一具有吸嘴42、52的取放結構，用以取放IC；所述的入料機構40的吸嘴42是將待測IC放置在載臺41上，以載臺41載送至第一取料機構20的取料器25下方，所述的第一取料機構20令取料器25的吸嘴在載臺41上吸取IC，并置入在測試臺10中進行測試作業，而載臺41再反向位移復位以承載下一待測IC；當入料機構40的載臺41再載送另一待測IC至測試臺10的側方時，第二取料機構30的取料器35作X方向位移，令取料器35位于入料機構40的載臺41上吸取待測IC，當第一取料機構20的IC檢測完畢后，即帶動取料器25橫向位移至出料機構50的載臺51上方，并令取料器25下降將IC放置在載臺51上送出，在此同時，第二取料機構30的取料器35作X-Z方向位移，將取料器35上另一待測IC置入在測試臺10中進行測試作業，當第二取料機構30的IC作測試時，所述的第一取料機構20的取料器25即反向位移作動，而再次在入料機構40的載臺41上吸附又一待測IC，當第二取料機構30的取料器35將測試完的IC放置在出料機構50的載臺51上送出時，第一取料機構20即可將待測IC置入在測試臺10中進行測試，而憑借第一、二取料機構20、30依序迅速載送IC進行測試作業。

由于所述的第一、二取料機構20、30具吸嘴的取料器25、35僅能作X-Z兩軸向的位移，使得取料器25、35在各取放位置與測試位置無法作X-Y-Z三軸向的位置微調，因此載臺41、51相對于測試臺10的位移定位位置，以及取料器25、35相對于測試臺10、載臺41、51的位移定位位置，在裝配設計上都必須具有絕對的精準度，才能使取料器25、35在X-Z兩軸向的位移限制下，準確的載送IC進行測試作業，如此高精度的制作需求，即造成制作不易與大幅提高制作成本的問題。此外取料器25、35以L型懸臂的型態架置在測試臺10的兩側，其下壓吸嘴253、353壓抵待測的IC，可能產生較差的水平度，而影響測試質量。

有鑒于此，本發明人遂以其多年從事相關行業的研發與制作經驗，針對目前所面臨的問題深入研究，經過長期努力的研究與試作，終究研創出一種可作三軸向滑移的移載取放器，以微調位移的方式補償與各相對位置間的誤差，進而達到易于制作與穩定執行作業，此即為本發明的設計宗旨。

發明內容