[發明專利]芯片測試系統及測試方法有效
| 申請號： | 200710002298.X | 申請日： | 2007-01-17 |
| 公開（公告）號： | CN101004437A | 公開（公告）日： | 2007-07-25 |
| 發明（設計）人： | 蘇俊源;徐祥哲;葉碧云;賴瑾 | 申請（專利權）人： | 威盛電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/317 | 分類號： | G01R31/317;G01R31/3177;G01R31/319;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人： | 蒲邁文;黃小臨 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 系統 方法 | ||
【說明書】：
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