[發(fā)明專利]芯片及芯片測試方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200710002297.5 | 申請日： | 2007-01-17 |
| 公開（公告）號： | CN101008909A | 公開（公告）日： | 2007-08-01 |
| 發(fā)明（設計）人： | 蘇耀群;洪偉翔 | 申請（專利權(quán)）人： | 威盛電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律師事務所 | 代理人： | 蒲邁文;黃小臨 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 芯片 測試 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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