[發(fā)明專利]反射型光學(xué)傳感器以及測(cè)量面的表面粗糙度檢測(cè)方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710001399.5 | 申請(qǐng)日： | 2007-01-12 |
| 公開(kāi)（公告）號(hào)： | CN101000236A | 公開(kāi)（公告）日： | 2007-07-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 新野和久;小川文雄 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 斯坦雷電氣株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | G01B11/30 | 分類號(hào)： | G01B11/30;G01N21/57 |
| 代理公司： | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 黃綸偉 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 反射 光學(xué) 傳感器 以及 測(cè)量 表面 粗糙 檢測(cè) 方法 | ||
【權(quán)利要求書(shū)】：
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