[發(fā)明專利]自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200710001035.7 | 申請(qǐng)日: | 2007-01-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101231297A | 公開(公告)日: | 2008-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林宸生;黃國纮;李坤城;林志敏;吳國彰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 七憶科技國際股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N35/00 | 分類號(hào): | G01N35/00;G01N21/00;G06F17/00 |
| 代理公司: | 天津三元專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 | 代理人: | 胡婉明 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 中國臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動(dòng)化 光學(xué) 檢測(cè) 系統(tǒng) 樣板 自動(dòng) 產(chǎn)生 方法 | ||
1.一種自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法,其特征在于,包括下列步驟:1、擷取步驟,由一待測(cè)影像上擷取一預(yù)定目標(biāo)樣板;2、設(shè)定步驟,在預(yù)定目標(biāo)樣板上任意設(shè)定數(shù)個(gè)像素點(diǎn),做為初始族群,并以序列方法紀(jì)錄族群各點(diǎn)資訊;3、編碼步驟,通過二進(jìn)制編碼法轉(zhuǎn)換以序列紀(jì)錄族群資訊;4、計(jì)算適應(yīng)函數(shù)步驟:以該目標(biāo)樣板比對(duì)待測(cè)影像,只計(jì)算數(shù)個(gè)像素點(diǎn)與待測(cè)影像的差異度,該目標(biāo)樣板其余未設(shè)定像素點(diǎn)的區(qū)域都予忽略計(jì)算,計(jì)算出其適應(yīng)函數(shù);5、比對(duì)步驟:以計(jì)算復(fù)數(shù)個(gè)像素點(diǎn)的差異度后產(chǎn)生的適應(yīng)函數(shù),在待測(cè)影像上產(chǎn)生預(yù)定數(shù)量的區(qū)塊影像,以預(yù)定數(shù)量的區(qū)塊影像與目標(biāo)樣板進(jìn)行比對(duì);6、樣板產(chǎn)生步驟:若待測(cè)影像上的預(yù)定數(shù)量的區(qū)塊影像與目標(biāo)樣板相符,則產(chǎn)生一初始新目標(biāo)樣板;若不符,則進(jìn)行下述步驟;7、基因演算步驟:通過基因演算法則對(duì)初始新目標(biāo)樣板上的個(gè)體適應(yīng)函數(shù)值高的像素點(diǎn)進(jìn)行復(fù)制、交配及突變運(yùn)算,產(chǎn)生具有數(shù)個(gè)新像素點(diǎn)的最終新目標(biāo)樣板,據(jù)以和待測(cè)影像上的預(yù)定數(shù)量的區(qū)塊影像進(jìn)行比對(duì)確認(rèn),當(dāng)該區(qū)塊影像的數(shù)量符合一預(yù)定值或小于預(yù)定閥值時(shí),運(yùn)算結(jié)束;反之則再重復(fù)進(jìn)行第4至第7步驟。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法,其特征在于,所述擷取步驟中,目標(biāo)樣板是從預(yù)定的待測(cè)影像上擷取/從另外載入的待測(cè)影像上擷取。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法,其特征在于,所述設(shè)定步驟中,是將目標(biāo)樣板預(yù)先解成個(gè)體基因組合,以利設(shè)定數(shù)個(gè)像素點(diǎn)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法,其特征在于,所述編碼步驟中,是序列記錄每一像素點(diǎn)的X座標(biāo)、Y座標(biāo)、灰階值(R)、灰階值(G)、灰階值(B)的資訊。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)的比對(duì)樣板自動(dòng)產(chǎn)生方法,其特征在于,所述編碼是采用二進(jìn)制編碼,編碼符號(hào)為0或1,即個(gè)體基因是0與1的符號(hào)串;經(jīng)此編碼手續(xù)組成二進(jìn)位遺傳演算法,若待測(cè)影像上擷取目標(biāo)樣板的長度變化范圍為(a,b),編碼長度為1,則求解精度為b-a/21-1;若目標(biāo)樣板的長度變化范圍為(1,1024),在求解精度為1(piexl)的條件下,編碼長度為10。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于七憶科技國際股份有限公司,未經(jīng)七憶科技國際股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200710001035.7/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N35-00 不限于用G01N 1/00至G01N 33/00中任何單獨(dú)一組提供的方法或材料所進(jìn)行的自動(dòng)分析;及材料的傳送
G01N35-02 .應(yīng)用許多樣品容器,這些容器用輸送機(jī)系統(tǒng)運(yùn)送,經(jīng)歷一次或多次處理或通過一個(gè)或多個(gè)處理點(diǎn)或分析點(diǎn)
G01N35-08 .利用沿管道系統(tǒng)流動(dòng)的不連續(xù)的樣品流,例如流動(dòng)注射分析
G01N35-10 .用于將樣品傳送給、傳送入分析儀器或從分析儀器中輸出樣品的裝置,例如吸入裝置、注入裝置
G01N35-04 ..輸送機(jī)系統(tǒng)的零部件
- 自動(dòng)化設(shè)備和自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種基于流程驅(qū)動(dòng)的測(cè)試自動(dòng)化方法以及測(cè)試自動(dòng)化系統(tǒng)
- 用于工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備認(rèn)識(shí)的系統(tǒng)和方法
- 實(shí)現(xiàn)過程自動(dòng)化服務(wù)的標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)方法學(xué)的自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種日產(chǎn)50萬安時(shí)勻漿自動(dòng)化系統(tǒng)
- 一種自動(dòng)化肥料生產(chǎn)系統(tǒng)
- 一種電氣自動(dòng)化設(shè)備自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)及檢測(cè)方法
- 用于自動(dòng)化應(yīng)用的抽象層
- 一種基于虛擬化架構(gòu)的自動(dòng)化系統(tǒng)功能驗(yàn)證方法
- 自動(dòng)化測(cè)試框架自動(dòng)測(cè)試的實(shí)現(xiàn)技術(shù)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





