[發明專利]快速吸收測量

有效

• 申請號: 200680056234.1
• 申請日: 2006-10-27
• 公開（公告）號: CN101529260A
• 公開（公告）日: 2009-09-09
• 發明（設計）人: J·弗里登;M·西格巴恩
• 申請（專利權）人: 艾利森電話股份有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 柯廣華;李家麟

1.一種用于通過無線通信裝置(110)發射的電場來計算在主體 (120)中引起的特定吸收率SAR值的方法，所述方法包括：

-使用其中待計算所述SAR值的主體的模型(120)，

-將所述的裝置(110)放置在所述模型(120)附近，

-測量在所述模型(120)中的特定點的電場分量，

所述方法的特征在于，它還包括：

-執行在所述模型(120)中的第一面(150)和第二面(160)的點中 的電場分量的所述測量，

-使所述測量包括測量所述點中的電場分量的幅度，

-使用所測量的幅度以便確定所述點中的電場分量的相位，使得 確定所述點中的復合電場，

-使用所述點中的復合電場以便確定對于所述模型(120)中的整 個受關注容積的復合電場，

-通過使用所述第一面(150)中的所測量的幅度(A₁)和對于 所述第一面(150)假定的相位值(Φ₁)來確定所述第一面(150) 中的復合電場(E₁)，并且使用所確定的所述第一面(150)中的復合 電場(E₁)以便計算關于所述第二面(160)的復合電場E₂，

-使用對于所述整個受關注容積的復合電場以便對于所述容積 來計算由所述裝置(110)引起的SAR值。

2.如權利要求1所述的方法，其中，所述第一面(150)和第二面 (160)是平面的。

3.如權利要求1所述的方法，其中，所述第一面(150)和第二面 (160)是曲面的。

4.如權利要求1-3中的任一項所述的方法，其中，所述第一面 和第二面(150，160)相互平行。

5.如權利要求1-3中的任一項所述的方法，其中，所述第一面 和第二面(150，160)相互不平行。

6.如權利要求1-3中的任一項所述的方法，其中，對于所述復 合電場中的分量E_x、E_y、E_z的每個來測量所述點中的復合電場幅度， 因而確定所述分量的每個中的相位。

7.一種用于通過無線通信發射器(110)發射的電場來計算主體 (120)中引起的特定吸收率SAR值的裝置，所述裝置包括：

-其中待計算所述SAR值的主體的模型(120)，

-用于將所述的裝置(110)保持在所述模型(120)附近的部件，

-用于測量在所述模型(120)中的特定點的電場分量的部件，

所述裝置的特征在于，它還包括：

-用于執行在所述模型(120)中的第一面(150)和第二面(160)的 點中的電場的所述測量的部件，

-用于使所述測量包括測量所述點中的電場分量的幅度的部件，

-用于使用所測量的幅度以便確定所述點中的電場分量的相位、 使得確定所述點中的復合電場的部件，

-用于使用所述點中的復合電場以便確定對于所述模型(120)中 的整個受關注容積的復合電場的部件，

-用于使用對于所述整個受關注容積的復合電場以便對于所述 容積來計算由所述裝置(110)引起的SAR值的部件，以及

在該裝置中，通過所述第一面(150)中的所測量的幅度和對于所 述第一面(150)假定的相位值來確定所述第一面(150)中的復合電場， 并且使用所確定的所述第一面中的復合電場以便計算關于所述第二 面(160)的復合電場。

8.如權利要求7所述的裝置，其中，所述第一面(150)和第二面 (160)是平面的。

9.如權利要求7所述的裝置，其中，所述第一面(150)和第二面 (160)是曲面的。

10.如權利要求7-9中的任一項所述的裝置，其中，所述第一面 和第二面(150，160)相互平行。