[發(fā)明專利]具有電容器的半導(dǎo)體器件及其制造方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680055950.8 | 申請日: | 2006-09-27 |
| 公開(公告)號: | CN101512755A | 公開(公告)日: | 2009-08-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 立花宏俊 | 申請(專利權(quán))人: | 富士通微電子株式會(huì)社 |
| 主分類號: | H01L21/8246 | 分類號: | H01L21/8246;H01L21/822;H01L27/04;H01L27/10;H01L27/105 |
| 代理公司: | 隆天國際知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 浦柏明;徐 恕 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 具有 電容器 半導(dǎo)體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導(dǎo)體器件,其特征在于,具有:
半導(dǎo)體襯底,
電容器,其形成在所述半導(dǎo)體襯底上,通過按順序?qū)盈B下部電極、電容器電介質(zhì)膜以及上部電極而構(gòu)成,當(dāng)設(shè)下部電極和上部電極隔著電介質(zhì)膜而相對置的電容區(qū)域的面積為S,該電容區(qū)域的外周線的總長度為L時(shí),面積S為1000μm2以上,L/S為0.4μm-1以上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
在俯視觀察下,所述上部電極被包圍在所述下部電極內(nèi),該上部電極的平面形狀是包括寬度為5μm以下的帶狀部分的形狀。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
在俯視觀察下,所述上部電極被包圍在所述下部電極內(nèi),所述上部電極由相互分離的多個(gè)圖形構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
具有如下形狀,即,構(gòu)成所述上部電極的多個(gè)圖形中的每一個(gè)圖形都在一邊長度為5μm的正方形的范圍內(nèi)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
還具有被施加電源電壓的電源線和被施加接地電壓的接地線,所述電源線和接地線都形成在所述半導(dǎo)體襯底上,
所述下部電極以及上部電極中的一個(gè)與所述電源線連接,另一個(gè)與所述接地線連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,
所述電容器電介質(zhì)膜由鐵電材料形成。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的半導(dǎo)體器件,其特征在于,還具有:
多條字線,形成在所述半導(dǎo)體襯底上,沿著第一方向延伸,
多條位線,形成在所述半導(dǎo)體襯底上,沿著與所述字線交叉的第二方向延伸,
開關(guān)元件,其對應(yīng)配置在所述字線和位線的交叉處,通過對所對應(yīng)的字線施加的電壓來控制導(dǎo)通狀態(tài),
層間絕緣膜,其形成在所述半導(dǎo)體襯底上,覆蓋所述開關(guān)元件,
單元電容器,其在所述層間絕緣膜上,對應(yīng)配置在所述字線和位線的交叉處,通過按順序?qū)盈B下部電極、由鐵電材料構(gòu)成的電容器電介質(zhì)膜以及上部電極而構(gòu)成,下部電極以及上部電極中的一個(gè)經(jīng)由所對應(yīng)的開關(guān)元件與所對應(yīng)的位線連接;
所述電容器與所述單元電容器配置在相同的所述層間絕緣膜上,具有相同的層疊結(jié)構(gòu)。
8.一種半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,包括:
在半導(dǎo)體襯底上形成電容器的工序,其中,該電容器通過按順序?qū)盈B下部電極、由鐵電材料構(gòu)成的電容器電介質(zhì)膜以及上部電極而構(gòu)成,當(dāng)設(shè)下部電極和上部電極隔著電介質(zhì)膜而相對置的電容區(qū)域的面積為S,該電容區(qū)域的外周線的總長度為L時(shí),面積S為1000μm2以上,L/S為0.4μm-1以上,
通過對所述電容器進(jìn)行加熱,改善所述電容器電介質(zhì)膜的膜品質(zhì)的工序。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,
在俯視觀察下,所述上部電極被包圍在所述下部電極內(nèi),該上部電極的平面形狀是包括寬度為5μm以下的帶狀部分的形狀。
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,
在俯視觀察下,所述上部電極被包圍在所述下部電極內(nèi),所述上部電極由相互分離的多個(gè)圖形構(gòu)成。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,
具有如下形狀,即,構(gòu)成所述上部電極的多個(gè)圖形中的每一個(gè)圖形都在一邊長度為5μm的正方形的范圍內(nèi)。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,
還包括在所述半導(dǎo)體襯底上形成被施加電源電壓的電源線和被施加接地電壓的接地線的工序,
所述下部電極以及上部電極中的一個(gè)與所述電源線連接,另一個(gè)與所述接地線連接。
13.根據(jù)權(quán)利要求8所述的半導(dǎo)體器件的制造方法,其特征在于,還包括:
在所述半導(dǎo)體襯底上形成開關(guān)元件的工序,
用層間絕緣膜覆蓋所述開關(guān)元件的工序,
在所述半導(dǎo)體襯底上形成相互交叉的多個(gè)位線和字線的工序,
在所述層間絕緣膜上形成單元電容器的工序,該單元電容器對應(yīng)配置在所述字線和位線的交叉處,通過按順序?qū)盈B下部電極、由鐵電材料構(gòu)成的電容器電介質(zhì)膜以及上部電極而構(gòu)成,下部電極以及上部電極中的一個(gè)經(jīng)由所對應(yīng)的開關(guān)元件與所對應(yīng)的位線連接;
將所述電容器與所述單元電容器配置在相同的所述層間絕緣膜上,并且所述電容器與該單元電容器同時(shí)形成。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于富士通微電子株式會(huì)社,未經(jīng)富士通微電子株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/200680055950.8/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





