[發明專利]帶有降低的暗電流的CMOS成像器的讀出方法有效
| 申請號: | 200680055834.6 | 申請日: | 2006-09-28 |
| 公開(公告)號: | CN101513037A | 公開(公告)日: | 2009-08-19 |
| 發明(設計)人: | M·納斯卡利;J·阿拉卡爾赫 | 申請(專利權)人: | 諾基亞公司 |
| 主分類號: | H04N5/217 | 分類號: | H04N5/217;H04N3/15 |
| 代理公司: | 北京市金杜律師事務所 | 代理人: | 王茂華 |
| 地址: | 芬蘭*** | 國省代碼: | 芬蘭;FI |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 帶有 降低 電流 cmos 成像 讀出 方法 | ||
1.一種捕獲電子圖像的設備,包括:
像素陣列,包括被設置成被曝光以捕獲電子圖像的多個光敏像素;
讀出電路,被設置用于:
獲得與從第一像素組中讀取的光強度值相關的第一暗電流誤差;
隨后從所述像素陣列的中間像素組中讀出光強度值,以捕獲所述圖像的光強度值;以及
隨后獲得與從所述第一像素組中讀取的所述光強度值相關的第二暗電流誤差,所述第一像素組與所述像素陣列中的中間像素組相分隔,而且每個像素組包括一個或多個像素;
其中所述設備還包括噪聲補償電路,所述噪聲補償電路被設置用于:
通過內插所述第一和第二暗電流誤差來計算所述中間像素組的一個或多個暗電流誤差,以補償所述像素陣列的像素中的暗電流;以及
從所述中間像素組的像素的光強度值中減去所述暗電流誤差,以獲得所述像素的噪聲補償光強度值。
2.根據權利要求1所述的設備,其中:
所述像素陣列包括一個或多個光學屏蔽的光敏像素,所述一個或多個光學屏蔽的光敏像素被設置成由所述讀出電路使用以獲得所述第一和第二暗電流誤差。
3.根據前述任何一項權利要求所述的設備,所述設備被設置成使得所述第一和中間像素組能夠被同時曝光。
4.根據權利要求3所述的設備,所述設備被設置成使得所述第一和中間像素組能夠被在不同的時間曝光。
5.根據權利要求4所述的設備,所述設備被設置成使得像素組?可以被曝光,而且在后續像素組被曝光之前其光強度值被所述讀出電路讀取。
6.根據權利要求1所述的設備,其中所述設備是數字攝像機。
7.根據權利要求1所述的設備,其中所述設備是數字攝像機的模塊。
8.一種捕獲電子圖像的方法,包括:
曝光像素陣列中的多個光敏像素以捕獲電子圖像;
獲得與從第一像素組中讀取的光強度值相關的第一暗電流誤差;
隨后在不同時間從所述像素陣列的中間像素組中讀出光強度值,以捕獲所述圖像的光強度值;
隨后獲得與從所述第一像素組中讀取的所述光強度值相關的第二暗電流誤差,所述第一像素組與所述像素陣列中的中間像素組相分隔,而且每個像素組包括一個或多個像素;
通過內插所述第一和第二暗電流誤差來計算所述中間像素組的一個或多個暗電流誤差,以補償所述像素陣列的像素中的暗電流;以及
從所述中間像素組的像素的光強度值中減去所述暗電流誤差,以獲得所述像素的噪聲補償光強度值。
9.一種捕獲電子圖像的設備,包括:
用于曝光像素陣列中的多個光敏像素以捕獲電子圖像的裝置;
用于獲得與從第一像素組中讀取的光強度值相關的第一暗電流誤差的裝置;
用于隨后從所述像素陣列的中間像素組中讀取光強度值以捕獲所述圖像的光強度值的裝置,每個像素組包括一個或多個像素;
用于隨后獲得與從所述第一像素組中讀取的所述光強度值相關的第二暗電流誤差的裝置,所述第一像素組與所述像素陣列中的中間像素組相分隔;
用于通過內插所述第一和第二暗電流誤差來計算所述中間像素組的一個或多個暗電流誤差,以補償所述像素陣列的像素中的暗電流?的裝置;以及
用于從所述中間像素組的像素的光強度值中減去所述暗電流誤差,以獲得所述像素的噪聲補償光強度值的裝置。
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