[發(fā)明專利]套管井電測井方法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200680054843.3
• 申請日: 2006-12-22
• 公開（公告）號(hào): CN101460871A
• 公開（公告）日: 2009-06-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: V·V·塞萊布里安斯基;V·I·宇克林
• 申請（專利權(quán)）人: 因特洛格有限責(zé)任公司
• 主分類號(hào): G01V3/20
• 分類號(hào): G01V3/20;E21B47/00
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 李 玲

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及對井的地球物理檢查，并可用于確定在套于金屬柱 (metal?string)內(nèi)的井周圍的巖床(formation?bed)的電阻率。

背景技術(shù)

與本發(fā)明在技術(shù)思想上最接近的現(xiàn)有技術(shù)方法是一種對套管井 進(jìn)行電測井的方法，包括施加電流，使用以三個(gè)等距測量電極以及至 少兩個(gè)電流電極形式制成的多電極探頭(sonde)來測量電場電勢， 其中所述至少兩個(gè)電流電極遠(yuǎn)離測量電極區(qū)域且相對于中央測量電 極對稱放置(參見優(yōu)先權(quán)日為2001年2月20日、公開日為2001年 12月10日的俄羅斯專利2,176,802，IPC?G01V3/20)。向每個(gè)電流電 極交替供給來自相同源極的電流。每次施加電流時(shí)，測量中央測量電 極和柱之間的接觸點(diǎn)處的電場電勢；測量在兩個(gè)外部測量電極之間的 柱長度兩端的第一電勢差，以及在相同柱長度兩端的第二電勢差。將 從恰當(dāng)公式算出的柱周圍巖床的比電阻率(specific?electrical resistivity)用作對套管井進(jìn)行電測井的參數(shù)。現(xiàn)有技術(shù)的方法適于通 過消除套管柱(casing?string)的電阻率對測量結(jié)果的影響來測量套 管井周圍巖床的比電阻率。

另一方面，套管柱是由聯(lián)結(jié)扣環(huán)(coupling?collar)接合的各獨(dú) 立管組成的。而各扣環(huán)的電阻率則可取決于材料屬性、使用壽命和侵 蝕深度而變化。

最接近的現(xiàn)有技術(shù)方法的缺點(diǎn)在于：當(dāng)在各探頭電極之間的間隔 內(nèi)存在線性電阻率與套管柱的電阻率不相同的聯(lián)結(jié)扣環(huán)時(shí)，柱周圍的 巖床的電阻率測量結(jié)果會(huì)有明顯失真。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的任務(wù)在于開發(fā)一種通過消除其線性電阻率與套管柱的 電阻率不相同的套管柱的聯(lián)結(jié)扣環(huán)對測量結(jié)果的影響來實(shí)現(xiàn)改善測 量結(jié)果精確性和可靠性的方法。

由此，本發(fā)明的任務(wù)通過這樣一種套管井電測井方法實(shí)現(xiàn)，該方 法包括：使用以放置在至少三個(gè)測量電極相對側(cè)的兩個(gè)電流電極形式 設(shè)計(jì)的探頭；交替施加電流；在每次電流施加時(shí)，由測量裝置測量施 加的電流、中央測量電極兩端的電勢、以及外部測量電極和中央測量 電極之間的電勢差；使用柱周圍巖床的比電阻作為套管井電測井參 數(shù)；根據(jù)井周圍巖床的各層以及帶有套管柱扣環(huán)的套管柱各段的電阻 模型構(gòu)成測量電路，測量電極被隔開而無須考慮等距要求，電流電極 適于用作測量電極，而且額外的測量裝置用于測量在這一連接上未施 加電流的電流電極與測量電極之間的電場電勢，比電阻率從以下公式 得出：