[發明專利]半導體存儲器有效
| 申請號: | 200680053998.5 | 申請日: | 2006-03-28 |
| 公開(公告)號: | CN101405817A | 公開(公告)日: | 2009-04-08 |
| 發明(設計)人: | 小林廣之 | 申請(專利權)人: | 富士通株式會社 |
| 主分類號: | G11C29/04 | 分類號: | G11C29/04 |
| 代理公司: | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 柳春雷;南 霆 |
| 地址: | 日本神*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體 存儲器 | ||
1.一種半導體存儲器,其特征在于,包括:
單元陣列,具有存儲單元、以及與存儲單元連接的字線和位線;
多個冗余熔絲電路,對多個故障地址分別進行編程;
標準冗余線,分別對應于所述冗余熔絲電路而專門設置,用于對故障 進行補救;
備用冗余線,被設置為由所述冗余熔絲電路共享,用于對故障進行補 救;
多個地址比較電路,分別對應于所述冗余熔絲電路而設置,將所述冗 余熔絲電路中被編程的故障地址與存取地址進行比較,在比較結果一致時 分別輸出冗余信號;
開關電路,響應所述冗余信號,使對應的標準冗余線或者所述備用冗 余線中的某一個有效;以及
選擇熔絲電路,輸出用于對所述開關電路的切換進行控制的冗余選擇 信號。
2.根據權利要求1所述的半導體存儲器,其特征在于,包括:
寄存器,可改寫地保存有多個故障地址;以及
故障地址選擇部,將所述各個冗余熔絲電路中被編程的故障地址或者 所述寄存器中保存的對應的故障地址的某一個輸出給所述各地址比較電 路。
3.根據權利要求1所述的半導體存儲器,其特征在于,所述半導體存 儲器包括編程控制電路,按照從半導體存儲器的外部提供的編程信息而輸 出用于對所述選擇熔絲電路進行編程的電信號。
4.根據權利要求1所述的半導體存儲器,其特征在于,
所述標準冗余線和所述備用冗余線是用于對故障的字線進行補救的冗 余字線。
5.根據權利要求1所述的半導體存儲器,其特征在于,所述半導體存 儲器包括:
多個冗余位線,用于對故障的位線進行補救;以及
冗余列開關,分別與所述冗余位線連接,
所述標準冗余線和所述備用冗余線是傳輸對所述冗余列開關的開/關進 行控制的列線控制信號的冗余列線。
6.一種半導體存儲器,其特征在于,包括:
存儲器內核,包括存儲單元、用于對存儲單元進行存取的控制線、以 及用于對故障的存儲單元或者故障的控制線進行補救的多個冗余控制線;
多個驅動器,分別驅動所述控制線;
冗余熔絲電路,對故障地址進行編程;
選擇開關電路,用于選擇性地將所述驅動器與所述冗余控制線的某一 個連接;
冗余開關電路,將所述各驅動器的輸出與除了對應于所述冗余熔絲電 路中被編程的故障地址的控制線以外的控制線以及選擇開關電路相連接; 以及
選擇熔絲電路,輸出用于對所述選擇開關電路的切換進行控制的冗余 選擇信號。
7.根據權利要求6所述的半導體存儲器,其特征在于,
所述冗余控制線包括分別與所述驅動器的某一個相對應的多個標準冗 余線、以及與所述標準冗余線相對應的驅動器所共享的備用冗余線。
8.根據權利要求6所述的半導體存儲器,其特征在于,包括:
寄存器,可改寫地保存有多個故障地址;以及
故障地址選擇部,將所述各個冗余熔絲電路中被編程的故障地址或者 所述寄存器中保存的故障地址的某一個輸出給所述冗余開關電路。
9.根據權利要求6所述的半導體存儲器,其特征在于,所述半導體存 儲器包括編程控制電路,按照從半導體存儲器的外部提供的編程信息而輸 出用于對所述選擇熔絲電路進行編程的電信號。
10.根據權利要求6所述的半導體存儲器,其特征在于,
所述存儲器內核包括與存儲單元相連接的字線,
所述冗余控制線是用于對故障的字線進行補救的冗余字線。
11.根據權利要求6所述的半導體存儲器,其特征在于,
所述存儲器內核包括與存儲單元連接的位線、用于對故障的位線進行 補救的冗余位線、與位線連接的列開關、以及與冗余位線連接的冗余列開 關,
所述冗余控制線是傳輸對冗余列開關的開/關進行控制的列線控制信號 的冗余列線。
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