[發明專利]兩軸墊狀物地層電阻率成像儀無效
| 申請號: | 200680053536.3 | 申請日: | 2006-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN101432742A | 公開(公告)日: | 2009-05-13 |
| 發明(設計)人: | G·B·伊茨科維齊;R·高德;A·N·貝斯帕洛夫;S·福根尼 | 申請(專利權)人: | 貝克休斯公司 |
| 主分類號: | G06F19/00 | 分類號: | G06F19/00 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 黨建華 |
| 地址: | 美國得*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 兩軸墊狀物 地層 電阻率 成像 | ||
1.一種評估被探井穿透的大地地層的設備,所述設備包括:
(a)被配置為接近探井壁的墊狀物;
(b)設置在墊狀物上的第一電極,所述第一電極被配置為將電流傳送到大地地層中;
(c)回流電極,水平地離開所述第一電極;以及
(d)處理器,被配置為
(A)根據所述第一電極中的電流和所述第一電極與所述回流電極之間的電壓確定大地地層的電阻率特性,以及
(B)在適當的介質上記錄所述電阻率特性。
2.根據權利要求1所述的設備,其中所述墊狀物包括多個墊狀物。
3.根據權利要求1所述的設備,其中所述第一電極還包括成方位角地設置在所述墊狀物上的多個電流電極。
4.根據權利要求1所述的設備,其中所確定的電阻率特性包括大地地層的水平電阻率。
5.根據權利要求1所述的設備,還包括附加回流電極,其與第一電極垂直地分離;并且其中所述處理器根據所述第一電極中的電流確定大地地層的其它特性。
6.根據權利要求5所述的設備,其中所述回流電極和所述附加回流電極被配置為開路的電極對。
7.根據權利要求6所述的設備,其中所述其它特性包括大地地層的垂直電阻率。
8.根據權利要求1所述的設備還包括測井工具和傳送裝置,所述測井工具被配置為承載所述墊狀物,所述傳送裝置被配置為將測井工具傳送到探井之內。
9.根據權利要求1所述的設備,其中所述墊狀物可從測井工具的主體延伸。
10.根據權利要求1所述的設備,其中所述回流電極還包括一對回流電極。
11.根據權利要求1所述的設備,其中所述處理器被配置為確定阻抗的實部。
12.一種評估大地地層的方法,所述方法包括:
(a)使用接近地層中的探井壁的墊狀物安裝型電流電極將電流傳送到大地地層之內。
(b)在與所述電流電極水平分開的回流電極中接收電流;
(c)根據所述電流電極中的電流和所述電流電極與所述回流電極之間的電壓確定大地地層的電阻率特性;以及
(d)在適當的介質上記錄所確定的電阻率特性。
13.根據權利要求12所述的方法,還包括將電流電極設置在墊狀物上,所述墊狀物可以從測井工具的主體延伸。
14.根據權利要求12所述的方法,還包括使用在多個墊狀物上的多個電流電極。
15.根據權利要求13所述的方法,其中傳送電流還包括使用多個電流電極。
16.根據權利要求15所述的方法,還包括將多個電流電極成方位角地設置在墊狀物上。
17.根據權利要求12所述的方法,其中所確定的電阻率特性包括大地地層的水平電阻率。
18.根據權利要求12所述的方法,其中所述回流電極還包括第一對回流電極,所述方法還包括:
(i)使所述第一對回流電極開路,
(ii)將第二對回流電極設置在至少一個墊狀物上,所述第二對回流電極與所述電流電極垂直分開;以及
(iii)根據來自電流電極的電流確定大地地層的其它特性。
19.根據權利要求18所述的方法,其中所述其它特性包括大地地層的垂直電阻率。
20.根據權利要求12所述的方法,其中確定大地地層的電阻率特性還包括確定在所述電流電極處的阻抗的實部。
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