[發明專利]分析裝置、方法和試劑

有效

• 申請號: 200680053216.8
• 申請日: 2006-12-21
• 公開（公告）號: CN101529246A
• 公開（公告）日: 2009-09-09
• 發明（設計）人: C·M·克林頓;E·N·格列澤;B·杰弗里-科克爾;S·科瓦奇;S·M·庫馬爾;G·西加爾;C·史蒂文斯;M·?？?/a>
• 申請（專利權）人: 梅索斯卡萊科技公司
• 主分類號: G01N33/00
• 分類號: G01N33/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 蔡勝利

1.一種用于測量來自密封式多孔分析板的孔的信號的裝置，該裝 置包括：

（a）用于從所述多孔板的孔拆除密封件的密封件拆除工具；和

（b）用于測量來自所述多孔板的孔的所述信號的檢測系統；

其中，所述密封件拆除工具包括帶有密封件穿刺末端的穿刺探針；

所述穿刺探針包括：

穿刺部分，其具有逐漸變細到頂點以在穿刺方向的一端形成所述 穿刺末端的外表面，穿刺部分是棱錐形或圓錐形的；和

密封件移動部分，其被沿所述穿刺方向與所述穿刺部分相鄰布置， 具有垂直于所述穿刺方向的橫截面形狀，所述橫截面形狀是正方形或 帶圓角的正方形，并且所述橫截面形狀與所述各個孔的孔開口大致一 致，但尺寸小于所述孔開口。

2.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述穿刺部分具有在徑向 方向上從所述末端延伸的暴露邊緣。

3.根據權利要求1所述的裝置，其中，所述穿刺探針是彈簧加載 式的，這樣，由活塞施加到板密封件上的沿所述穿刺方向的向下的最 大力由彈簧的彈簧常數限定。

4.根據權利要求1至3中任一項所述的裝置，其中，所述穿刺探 針還包括板止動部分，其與所述密封件移動部分相鄰，限定所述穿刺 探針在所述孔內行程的最大距離。

5.根據權利要求1至3中任一項所述的裝置，其還包括移液探針。

6.根據權利要求5所述的裝置，其中：

所述穿刺探針具有平行于所述穿刺方向但從所述穿刺末端偏離的 通孔；并且

所述移液探針被可移動地置于所述通孔內，以使在密封件拆除操 作過程中它可以被收回到所述穿刺探針內，且在移液操作過程中它可 以從所述穿刺探針中伸出來。

7.根據權利要求6所述的裝置，其中，所述穿刺探針和移液探針 的運動被彼此獨立地控制。

8.根據權利要求6所述的裝置，其中：

所述穿刺探針還包括與所述密封件移動部分相鄰、限定所述穿刺 探針在所述孔內行程的最大距離的板止動部分；并且

所述移液探針通過彈簧被連接到所述穿刺探針上，所述彈簧的彈 簧常數被選擇為使得：

（i）當所述移液探針從所述孔內被完全收回時，它不從所述穿刺 探針內伸出來；

（ii）所述移液探針朝向孔的平移導致所述穿刺探針一起平移，并 允許傳遞足以拆除所述孔上的密封件的力；和

（iii）繼續平移經過所述穿刺探針行程的最大距離導致彈簧被壓 縮并且所述移液探針從所述穿刺探針伸出到所述孔內。

9.根據權利要求1至3中任一項所述的裝置，其中，所述檢測系 統是光成像系統。

10.一種使用根據權利要求1至9中任一所述的裝置檢測來自多 孔板的孔的信號的方法，該方法包括：

（a）從多孔板的孔上拆除密封件；和

（b）檢測來自所述孔的所述信號。

11.一種使用根據權利要求1至9中任一所述的裝置檢測來自多 孔板的孔的信號的方法，該方法包括：

（a）穿刺多孔板的孔上的密封件；和

（b）檢測來自所述孔的所述信號。

12.根據權利要求11所述的方法，其中，所述穿刺包括：

將所述密封件切割成段；和

抵靠著所述孔的內側壁折疊所述段。

13.根據權利要求10至12中任一所述的方法，其還包括下述步 驟中的一個或多個：

吸引樣品到所述孔內；

吸引分析試劑到所述孔內；

清洗所述孔；

照亮所述孔；

施加電勢到所述孔上。

14.根據權利要求10至12中任一所述的方法，其還包括在所述 板的一個或多個額外的孔重復所述方法。