[發明專利]對差分對的本征偏移進行補償的電子電路

無效

• 申請號: 200680052829.X
• 申請日: 2006-12-12
• 公開（公告）號: CN101395794A
• 公開（公告）日: 2009-03-25
• 發明（設計）人: F·博爾;S·布呂埃爾
• 申請（專利權）人: E2V半導體公司
• 主分類號: H03F3/45
• 分類號: H03F3/45;H03M3/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 陳松濤;王 英

1、一種對包括差分對的差分集成電路的偏移電壓進行自動校正的方法，在所述差分對的上游具有至少一個包括晶體管(Ts1、Ts2)和電流源(SC1、SC2)的跟隨器級，所述方法包括如下步驟：

-在與正常使用階段不同的校準階段期間消除所述差分電路的輸入端上的差分電壓，

-在該階段中，通過所述差分對的分支的輸出電流的差來對電容器(C1、C2)充電，

-將所述電容器的端子上的電壓與至少一個閾值比較，

-在所述校準階段之后的正常使用階段期間，在存儲器中保存所述比較的結果，

-根據存儲器中保存的結果，在所述正常使用階段中對所述電流源(SC1、SC2)施加校正。

2、根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在所述校準階段中，首先向所述電容器施加來自所述差分對的第一分支的電流，然后向所述電容器施加來自所述差分對的第二分支的反方向電流。

3、根據權利要求2所述的方法，其特征在于，通過所述差分對的輸出電流的差來重復進行n次充電和放電，以提高所述電容器的端子上產生的電壓。

4、根據權利要求1到3之一所述的方法，其特征在于，施加到所述跟隨器級的所述電流源(SC1、SC2)的所述校正包括為所述電流源并聯另一個具有固定值的電流源(SC1a、SC2a)。

5、根據前述權利要求之一所述的方法，其特征在于，提供了兩個電容器(C1、C2)，并且所述電容器之一由所述輸出電流之一充電，而另一個電容器由另一個電流充電，然后通過交叉所述分支來對所述電容器放電，然后串聯設置所述電容器以便與所述閾值進行比較。

6、一種具有差分對的電子集成電路，所述差分對包括用于接收兩個電壓(V1、V2)的至少兩個輸入端、施加到負載(CH1、CH2)的兩個電流輸出端和至少一對連接到這些負載的差分分支(T1、T2)、以及所述差分對上游的至少一個跟隨器級，所述跟隨器級包括晶體管(Ts1、Ts2)和連接到該晶體管的發射極的電流源(SC1、SC2)，所述電路的特征在于其包括：

-序列發生器，其用于確立所述電路的偏移電壓校準階段和校準之后的使用階段，

-與所述差分對關聯的至少一個電容器(C1、C2)，

-一組由所述序列發生器激活的換向器，所述換向器在所述使用階段期間將輸出電流引導到所述負載，并且所述換向器在所述校準階段期間，一方面向所述輸入端施加零差分電壓，另一方面在由所述序列發生器提供的一系列時隙期間，通過交替充電和放電，將所述輸出電流之一和另一個交替地引導到所述電容器，

-用于檢測所述電容器的端子上的電壓閾值的電路(CMP)，在所述一系列時隙的末尾，該電路(CMP)由所述序列發生器激活，該電路提供狀態信號，該狀態信號表示超過或未超過閾值以及所述電容器的所述端子上的電壓的符號，

-用于保持所述檢測電路的輸出端上的所述狀態信號的電路(MEM)，以便在所述使用階段期間對在所述校準階段期間確定的狀態值進行保持，

-用于根據所述保持電路的輸出端上提供的所述狀態值來修改所述跟隨器級的電流源(SC1、SC2)的電流的電路。

7、根據權利要求6所述的電路，其特征在于，它包括兩個相同的電容器和換向器，該換向器用于在一次交替期間用所述差分對的所述輸出電流之一對所述電容器之一充電，同時由另一輸出電流對另一電容器放電，之后，在下一交替期間，由第二輸出的電流對第一電容器放電，同時由第一輸出的電流對第二電容器充電。

8、根據權利要求6或7所述的集成電路，其特征在于，所述差分對是包括四個差分分支的交叉差分對，所述四個差分分支兩兩共有公共負載。

9、根據權利要求8所述的集成電路，其特征在于，所述交叉差分對形成了模數轉換器中的卷積電路的卷積單元的一部分。