[發明專利]用于在使用光學黑色像素及束縛像素的成像器中設定黑色電平的方法及設備

有效

• 申請號: 200680051099.1
• 申請日: 2006-12-11
• 公開（公告）號: CN101361360A
• 公開（公告）日: 2009-02-04
• 發明（設計）人: 埃里克·埃斯克路德
• 申請（專利權）人: 美光科技公司
• 主分類號: H04N3/15
• 分類號: H04N3/15;H04N5/217
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 王允方

1.一種成像像素陣列，其包括：

像素有源區域，其組織成多個像素行及像素列；及

布置在多個暗像素行中的至少一者中的多個暗像素，所述多個暗像素行與所述像素有源區域相鄰，所述像素有源區域中的像素列跨越所述多個暗像素行的每一行的一部分而延伸，所述多個暗像素包括光學黑色像素及束縛像素，所述束縛像素是被束縛到一電壓的像素，所述像素有源區域的所述像素列跨越而延伸的所述多個暗像素行的每一行的所述部分包含光學黑色像素及束縛像素兩者。

2.如權利要求1所述的成像像素陣列，其中所述多個暗像素行中的所述光學黑色像素及束縛像素組織成棋盤圖案。

3.如權利要求1所述的成像像素陣列，其中所述多個暗像素行中的每一行組織成第一半及第二半，所述第一半包括光學黑色像素，且所述第二半包括束縛像素。

4.如權利要求3所述的成像像素陣列，其中所述第一半及所述第二半像素位于相鄰暗像素行的交替側上。

5.如權利要求1所述的成像像素陣列，其中所述多個暗像素行中的所述光學黑色像素及所述束縛像素組織成對稱圖案。

6.一種為成像器提供像素校正值的設備，所述設備包括：

黑色電平校正模塊，所述黑色電平校正模塊基于來自像素陣列的多個暗像素行中的至少一者的多個光學黑色像素及多個束縛像素的輸出值來計算總黑色電平值，所述束縛像素是被束縛到一電壓的像素，其中所述黑色電平校正模塊包括：

求平均值模塊，用于為所述多個暗像素行中的每一行計算平均光學黑色像素輸出和平均束縛像素輸出；

比較模塊，用于確定所述多個暗像素行中每一行的所述平均光學黑色像素輸出和所述平均束縛像素輸出之間的差；以及

計算模塊，用于將所述總黑色電平值計算為由所述比較模塊確定的所述差的平均數和所述平均束縛像素輸出之和。

7.如權利要求6所述的設備，其中所述多個暗像素行中的所述光學黑色像素及束縛像素組織成棋盤圖案。

8.如權利要求6所述的設備，其中所述多個暗像素行中的每一行組織成第一半及第二半，所述第一半包括光學黑色像素，且所述第二半包括束縛像素。

9.如權利要求8所述的設備，其中所述第一半及所述第二半像素位于相鄰暗像素行的交替側上。

10.如權利要求6所述的設備，其中所述多個暗像素行中的所述光學黑色像素及所述束縛像素組織成對稱圖案。

11.一種校正成像器的像素信號的方法，所述方法包括：

為所述成像器的像素陣列中的多個暗像素行中的每一行計算平均光學黑色像素輸出及平均束縛像素輸出，束縛像素輸出被確定來自束縛像素，所述束縛像素是被束縛到一電壓的像素；

為每一行確定所述平均光學黑色像素輸出與所述平均束縛像素輸出之間的差；

對為每一行確定的所述平均光學黑色像素輸出與所述平均束縛像素輸出之間的所述差求平均值以產生平均差值；

對所述平均差值和所述平均束縛像素輸出計算總和以產生總黑色電平值；及

使用所述總黑色電平值來校正所述成像器像素陣列中位于像素有源區域或者所述成像器像素陣列的暗像素列中的每一像素的像素輸出，所述校正是通過從位于所述像素有源區域的所述成像器像素陣列中或者所述成像器像素陣列的暗像素列中的每個像素的值中減去所述總黑色電平值來進行的。

12.如權利要求11所述的方法，其中從所述多個暗像素行內布置成棋盤圖案的多個光學黑色像素及束縛像素計算每一行的所述平均光學黑色像素輸出及所述平均束縛像素輸出。

13.如權利要求11所述的方法，其中從所述多個暗像素行內布置成對稱圖案的多個光學黑色像素及束縛像素計算每一行的所述平均光學黑色像素輸出及所述平均束縛像素輸出。