[發(fā)明專利]具有縱向磁場梯度系統(tǒng)的磁共振掃描儀

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200680048218.8
• 申請日: 2006-12-12
• 公開（公告）號: CN101341418A
• 公開（公告）日: 2009-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: J·A·奧弗韋格
• 申請（專利權(quán)）人: 皇家飛利浦電子股份有限公司
• 主分類號: G01R33/385
• 分類號: G01R33/385
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司
• 代理人: 陳松濤;王英

1、一種主磁體系統(tǒng)(10)，其用于至少在磁共振掃描儀的掃描區(qū)(20)中產(chǎn)生縱向方向的主磁場(B₀)，所述主磁體系統(tǒng)包括：

設(shè)置在中央掃描儀平面(22)上的中央磁體繞組區(qū)(30)，所述中央磁體繞組區(qū)(30)是逐層纏繞的。

2、一種磁共振掃描儀，包括：

如權(quán)利要求1所述的主磁體系統(tǒng)(10)；以及

縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)，其包括纏繞的用于產(chǎn)生縱向方向的主磁場梯度的中央梯度繞組區(qū)(40、40’、42、42’)。

3、如權(quán)利要求2所述的磁共振掃描儀，其中所述中央梯度繞組區(qū)包括關(guān)于所述中央掃描儀平面(22)對稱設(shè)置的多個間隔開的繞組部(40、40’、42、42’)，并且所述中央磁體繞組區(qū)(30)最靠近所述間隔開的繞組部的至少若干層各自包括長度與沿圓周纏繞在所述掃描區(qū)(20)周圍的所述間隔開的繞組部之間的間隔相當(dāng)?shù)钠?/p>

4、如權(quán)利要求2所述的磁共振掃描儀，其中所述中央磁體繞組區(qū)(30)的每一層繞組連續(xù)跨越所述中央磁體繞組區(qū)(30)的縱向長度(L)，改變所述層的縱向繞組密度以至少在所述掃描區(qū)(20)內(nèi)產(chǎn)生基本均勻的縱向方向的主磁場(B₀)。

5、如權(quán)利要求2所述的磁共振掃描儀，其中所述主磁體系統(tǒng)(10)進(jìn)一步包括：

外部磁體繞組區(qū)(32、34)，其布置在所述磁體繞組區(qū)(30)的外側(cè)并且關(guān)于中央掃描儀平面(22)對稱布置。

6、如權(quán)利要求5所述的磁共振掃描儀，其中所述縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)進(jìn)一步包括：

外部梯度繞組區(qū)(44、46)，所述中央梯度繞組區(qū)(40、40’、42、42’)設(shè)置在所述外部梯度繞組區(qū)之間，所述外部梯度繞組區(qū)產(chǎn)生補(bǔ)償性的縱向方向的磁場梯度，其具有的極性與所述縱向方向的主磁場梯度的極性相反，使得在所述外部磁體繞組區(qū)(32、34)與所述縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)之間的互感基本為零。

7、如權(quán)利要求6所述的磁共振掃描儀，其中所述主磁體系統(tǒng)(10)關(guān)于所述中央掃描儀平面(22)對稱，并且所述縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)關(guān)于所述中央掃描儀平面(22)對稱。

8、如權(quán)利要求7所述的磁共振掃描儀，其中所述外部梯度繞組區(qū)(44、46)之間的縱向間隔小于所述外部磁體繞組區(qū)(32、34)之間的縱向間隔。

9、如權(quán)利要求6所述的磁共振掃描儀，其中所述中央梯度繞組區(qū)(40、40’、42、42’)的半徑與所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑不同，而所述外部梯度繞組區(qū)(44、46)的半徑與所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑大致相同。

10、如權(quán)利要求9所述的磁共振掃描儀，其中所述外部梯度繞組區(qū)(44、46)的半徑在所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑的大約1±5％之內(nèi)。

11、如權(quán)利要求6所述的磁共振掃描儀，其中所述中央梯度繞組區(qū)(40、42)的半徑大于所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑，而所述外部梯度繞組區(qū)(44、46)的半徑與所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑大致相同。

12、如權(quán)利要求6所述的磁共振掃描儀，其中所述主磁體系統(tǒng)(10)和所述縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)的繞組是超導(dǎo)繞組，并且所述掃描儀進(jìn)一步包括：

真空夾套(50)，其容納了所述主磁體系統(tǒng)(10)和所述縱向磁場梯度系統(tǒng)(12、12’)的所述超導(dǎo)繞組。

13、如權(quán)利要求6所述的磁共振掃描儀，進(jìn)一步包括：

橫向磁場梯度系統(tǒng)(14)，其被纏繞成用來至少在所述掃描區(qū)(20)中產(chǎn)生橫向方向的磁場梯度。

14、如權(quán)利要求13所述的磁共振掃描儀，其中所述橫向磁場梯度系統(tǒng)(14)的半徑被設(shè)置得比所述主磁體系統(tǒng)(10)的半徑大。