[發(fā)明專利]連接驗(yàn)證技術(shù)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200680048000.2
• 申請(qǐng)日: 2006-12-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101341414A
• 公開(kāi)（公告）日: 2009-01-07
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 托馬斯·金斯利
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 美光科技公司
• 主分類號(hào): G01R31/04
• 分類號(hào): G01R31/04
• 代理公司: 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 王允方

1.一種存儲(chǔ)器裝置，其包括：

襯底；

第一連接墊和第二連接墊，其耦合到所述襯底，所述第一和第二連接墊經(jīng)配置 以促進(jìn)所述存儲(chǔ)器裝置與外部電路之間的電連通，其中所述第一和第二連接墊中的每 一者包括多級(jí)連接墊，所述多級(jí)連接墊包含內(nèi)導(dǎo)電墊和外導(dǎo)電墊；和

測(cè)試路徑，其連接所述第一連接墊與所述第二連接墊，其中所述測(cè)試路徑促進(jìn) 所述第一連接墊的所述外導(dǎo)電墊與所述第二連接墊的所述外導(dǎo)電墊之間的直接電連 通。

2.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述內(nèi)導(dǎo)電墊經(jīng)配置以啟用所述存儲(chǔ) 器裝置與所述外部電路之間的電連通。

3.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述測(cè)試路徑從所述第一連接墊的所 述外導(dǎo)電墊向外延伸到所述第二連接墊。

4.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述內(nèi)導(dǎo)電墊和所述外導(dǎo)電墊在所述 襯底上彼此電隔離。

5.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其包括分別耦合到所述第一和第二連接墊 的兩個(gè)焊料球。

6.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器裝置包括球柵陣列。

7.如權(quán)利要求6所述的存儲(chǔ)器裝置，其中所述存儲(chǔ)器裝置包括堆疊球柵陣列。

8.如權(quán)利要求1所述的存儲(chǔ)器裝置，其包括耦合到所述襯底的存儲(chǔ)器芯片。

9.一種用于測(cè)試電子裝置的互連的系統(tǒng)，其包括：

印刷電路板，其具有第一多個(gè)連接墊；

存儲(chǔ)器裝置，其耦合到所述印刷電路板，所述存儲(chǔ)器裝置包含具有電耦合到所 述第一多個(gè)連接墊的第二多個(gè)連接墊的襯底；和

測(cè)試路徑，其電耦合所述第一多個(gè)連接墊的兩個(gè)連接墊或所述第二多個(gè)連接墊 的兩個(gè)連接墊，其中所述兩個(gè)連接墊包括兩個(gè)多級(jí)連接墊，所述多級(jí)連接墊包括主要 連接墊和目標(biāo)連接墊，所述測(cè)試路徑促進(jìn)所述兩個(gè)連接墊的所述目標(biāo)連接墊之間的直 接電連通，且所述測(cè)試路徑能夠有選擇地中斷以使得在測(cè)試階段期間在所述兩個(gè)連接 墊之間能夠由所述測(cè)試路徑建立載流路徑，且使得在所述測(cè)試完成時(shí)能夠中斷所述載 流路徑。

10.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述印刷電路板包括所述測(cè)試路徑。

11.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述襯底包括所述測(cè)試路徑。

12.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述存儲(chǔ)器裝置包括球柵陣列。

13.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其中所述主要連接墊和所述目標(biāo)連接墊是大致 同心的。

14.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其包括將所述第一多個(gè)連接墊的成員電連接到 所述第二多個(gè)連接墊的成員的多個(gè)焊料球。

15.如權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其中所述多個(gè)焊料球的兩個(gè)焊料球分別耦合到 所述兩個(gè)多級(jí)連接墊的所述主要連接墊和所述目標(biāo)連接墊。

16.如權(quán)利要求9所述的系統(tǒng)，其包括以操作方式耦合到所述存儲(chǔ)器裝置的處 理器。

17.一種用于測(cè)試電子裝置的互連的方法，其包括：

將裝置耦合到印刷電路板，所述裝置和所述印刷電路板分別具有第一多個(gè)和第 二多個(gè)連接墊，其中所述第一或第二多個(gè)連接墊的兩個(gè)連接墊經(jīng)由測(cè)試路徑彼此直接 電耦合，所述兩個(gè)連接墊包括兩個(gè)多級(jí)連接墊，所述兩個(gè)多級(jí)連接墊的每一者包括主 要連接墊和目標(biāo)連接墊，且所述測(cè)試路徑促進(jìn)所述兩個(gè)連接墊的所述目標(biāo)連接墊之間 的直接電連通；

跨越所述兩個(gè)連接墊和所述測(cè)試路徑執(zhí)行連續(xù)性測(cè)試；和

停用所述兩個(gè)連接墊之間的所述測(cè)試路徑。

18.如權(quán)利要求17所述的方法，其中停用所述測(cè)試路徑包括施加足夠量值的電 力來(lái)切斷所述測(cè)試路徑。

19.如權(quán)利要求17所述的方法，其中經(jīng)由耦合到所述測(cè)試路徑的邏輯電路來(lái)執(zhí) 行停用所述測(cè)試路徑。