[發明專利]小型環形射頻離子阱質量分析器

有效

• 申請號: 200680047044.3
• 申請日: 2006-12-13
• 公開（公告）號: CN101330965A
• 公開（公告）日: 2008-12-24
• 發明（設計）人: S·A·拉莫特;S·E·托利;E·D·李;J·L·瓊斯;R·W·維特;M·李
• 申請（專利權）人: 楊百翰大學
• 主分類號: B01D59/44
• 分類號: B01D59/44;H01J49/04
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 杜娟

1.一種利用小型環形射頻(RF)離子阱質量分析器、按照源自 原子、分子、亞原子粒子和離子的帶電粒子的質荷比分離離子的方法， 其中所述小型環形射頻離子阱質量分析器具有相對于全尺寸3D射頻 離子阱質量分析器的縮小的尺寸，所述方法包含如下步驟：

提供包括燈絲端蓋、檢測器端蓋、內環和外環的俘獲體積，從而 生成用于存儲離子的四極俘獲場；

在燈絲端蓋和檢測器端蓋中部署多個狹縫和橋，其中，所述多個 橋凹入到低于燈絲端蓋和檢測器端蓋的表面的位置，以將四極俘獲場 的不連續性最小化；

提供用于檢測通過檢測器端蓋從俘獲體積噴出的離子的檢測裝 置；以及

提供用于產生離子和通過燈絲端蓋將離子引入俘獲體積中的離 子源。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：以等于全尺寸環形射頻離子阱質量分析器的1/2到1/50的比例 制造小型環形射頻離子阱質量分析器。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：以近似1/5比例制造小型環形射頻離子阱質量分析器，其中， 環形俘獲體積近似等于全尺寸3D射頻離子阱質量分析器的俘獲體 積。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：由于其尺寸的縮小，降低小型環形射頻離子阱質量分析器的功 率要求。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：制造總是適合用在便攜式應用中的小型環形射頻離子阱質量分 析器。

6.一種利用小型環形射頻(RF)離子阱質量分析器、按照源自 原子、分子、亞原子粒子和離子的帶電粒子的質荷比分離離子的方法， 其中所述小型環形射頻離子阱質量分析器具有相對于全尺寸3D射頻 離子阱質量分析器的縮小的尺寸，所述方法包含如下步驟：

提供包括燈絲端蓋、檢測器端蓋、內環和外環的俘獲體積，從而 生成用于存儲離子的四極俘獲場；

在檢測器端蓋與檢測裝置之間部署檢測器門，其中，檢測器門控 制離子從俘獲體積到檢測裝置的流動，從而延長壽命，降低潛在噪聲， 并提高檢測裝置的占空比；

提供用于檢測通過檢測器端蓋從俘獲體積噴出的離子的檢測裝 置；以及

提供用于產生離子和通過燈絲端蓋將離子引入俘獲體積中的離 子源。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：提供由內部分和外部分組成的環狀檢測器門。

8.根據權利要求6所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：

利用不同電位偏置檢測器門的內部分和外部分，使離子偏離檢測 裝置；和

利用相似電位偏置檢測器門的內部分和外部分，將離子傳輸到檢 測裝置。

9.根據權利要求8所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：以等于全尺寸環形射頻離子阱質量分析器的1/2到1/50的比例 制造小型環形射頻離子阱質量分析器。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：以近似1/5比例制造小型環形射頻離子阱質量分析器，其中， 環形俘獲體積近似等于全尺寸3D射頻離子阱質量分析器的俘獲體 積。

11.根據權利要求6所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：由于其尺寸的縮小，降低小型環形射頻離子阱質量分析器的功 率要求。

12.根據權利要求6所述的方法，其中，該方法進一步包含如下 步驟：制造總是適合用在便攜式應用中的小型環形射頻離子阱質量分 析器。