[發(fā)明專利]用于過程設備的自診斷過程控制環(huán)路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680045686.X | 申請日: | 2006-12-05 |
| 公開(公告)號: | CN101322086A | 公開(公告)日: | 2008-12-10 |
| 發(fā)明(設計)人: | 特瑞思·L·貝利文斯;威廉·K·沃瓊斯尼斯;格雷戈里·K·麥克米倫;彼得·沃瓊斯尼斯 | 申請(專利權)人: | 費舍-柔斯芒特系統(tǒng)股份有限公司 |
| 主分類號: | G05B23/02 | 分類號: | G05B23/02 |
| 代理公司: | 北京德琦知識產(chǎn)權代理有限公司 | 代理人: | 陸弋;宋志強 |
| 地址: | 美國德*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 過程 設備 診斷 控制 環(huán)路 | ||
1.一種用于診斷適應性過程控制環(huán)路的方法,包括:
在所述適應性過程控制環(huán)路在一過程控制環(huán)境中聯(lián)機連接時,測量因所 述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的一個或多個過程控制設備的常態(tài)操作而產(chǎn)生的 過程控制環(huán)路信號數(shù)據(jù);
在所述適應性過程控制環(huán)路的常態(tài)操作期間,異步診斷所述適應性過程 控制環(huán)路的過程控制環(huán)路性能元件、過程控制環(huán)路設備元件、適應性模型品 質(zhì)元件及過程控制環(huán)路穩(wěn)定性元件;
使用所述過程控制環(huán)路信號數(shù)據(jù),產(chǎn)生與所述適應性過程控制環(huán)路的元 件的過程控制環(huán)路參數(shù)相關的診斷指數(shù);以及
根據(jù)所述診斷指數(shù)中的一個或多個診斷指數(shù),評估所述適應性過程控制 環(huán)路的狀態(tài)。
2.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括獨立地為 所述適應性過程控制環(huán)路的所述元件產(chǎn)生診斷指數(shù)。
3.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括:
產(chǎn)生代表所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的一個或多個過程控制設備中的 每個過程控制設備的狀態(tài)的診斷指數(shù);以及
產(chǎn)生代表所述整個適應性過程控制環(huán)路的狀態(tài)的診斷指數(shù)。
4.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生指示 所述適應性過程控制環(huán)路的性能的一個或多個使用指數(shù)。
5.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生一個 或多個包括:可變性指數(shù)、總過程變量標準差及性能標準差的組合。
6.如權利要求5所述的方法,其中產(chǎn)生所述可變性指數(shù)的步驟包括產(chǎn) 生一個或多個包括:指示過程控制環(huán)路調(diào)諧的可變性指數(shù)及指示過程控制環(huán) 路設備狀態(tài)的組合。
7.如權利要求5所述的方法,其中產(chǎn)生所述總過程變量標準差的步驟 包括產(chǎn)生一個或多個包括:指示過程控制環(huán)路調(diào)諧狀態(tài)的總過程變量標準差 及指示過程控制環(huán)路設備狀態(tài)的總過程變量標準差的組合。
8.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生指示 所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的過程控制設備的診斷的一個或多個使用指數(shù)。
9.如權利要求1所述的方法,其中產(chǎn)生診斷指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生一個 或多個包括:所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的過程控制環(huán)路設備的分辨率、所 述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的過程控制環(huán)路設備的死區(qū)及所述適應性過程控 制環(huán)路內(nèi)的過程控制環(huán)路設備的遲滯的組合的指數(shù)。
10.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的分辨率的指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生指示導致所述過程控制 環(huán)路設備中發(fā)生響應所需要的最小過程控制信號的測量的分辨率的指數(shù)。
11.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的分辨率的指數(shù)的步驟包括計算所述過程控制環(huán)路設備 的所述遲滯與所述過程控制環(huán)路設備的所述死區(qū)之間的差異。
12.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的死區(qū)的指數(shù)的步驟包括產(chǎn)生指示在不需要所述過程控 制環(huán)路設備中有可觀察響應以響應過程控制信號的情況下,輸入可以變動的 范圍的測量的死區(qū)。
13.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的死區(qū)的指數(shù)的步驟包括計算所述過程控制環(huán)路設備的 所述遲滯與所述過程控制環(huán)路設備的所述分辨率之間的差異。
14.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的遲滯的指數(shù)的步驟包括根據(jù)傳輸?shù)剿鲞^程控制環(huán)路 設備的輸入及所述過程控制環(huán)路設備的輸出,測量所述過程控制環(huán)路設備的 位移。
15.如權利要求9所述的方法,其中產(chǎn)生所述適應性過程控制環(huán)路內(nèi)的 過程控制環(huán)路設備的遲滯的指數(shù)的步驟包括計算所述過程控制環(huán)路設備的 所述死區(qū)及所述過程控制環(huán)路設備的分辨率的和。
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