[發(fā)明專利]統(tǒng)計時序分析中關(guān)鍵度預測的系統(tǒng)和方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200680044096.5
• 申請日: 2006-12-12
• 公開（公告）號: CN101317178A
• 公開（公告）日: 2008-12-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: V·佐羅托夫;C·威斯維斯瓦里亞赫;N·文卡特斯瓦蘭;熊瑾珺
• 申請（專利權(quán)）人: 國際商業(yè)機器公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 李穎

1.一種用于確定電路時序圖的邊的關(guān)鍵度概率的方法，包括：

形成與被計時的電路對應的有向無環(huán)時序圖；

執(zhí)行電路的統(tǒng)計時序；

為感興趣的每條邊定義將時序圖劃分為多個部分的割集；

為割集中的每條邊確定邊松弛；

計算割集中所有邊松弛的統(tǒng)計最大值；和

從統(tǒng)計最大值推斷每條邊的邊關(guān)鍵度概率。

2.權(quán)利要求1的方法，其中多個部分中的第一部分包括時序圖的源節(jié)點，多個部分中的第二部分包括時序圖的宿節(jié)點。

3.權(quán)利要求2的方法，其中割集包括邊，并且邊的源節(jié)點所處的層級低于時序圖的當前層級。

4.權(quán)利要求2的方法，其中割集包括邊，并且邊的宿節(jié)點所處的層級高于時序圖的當前層級。

5.權(quán)利要求2的方法，包括確定早模式統(tǒng)計邊松弛，其中早模式統(tǒng)計邊松弛是早模式源節(jié)點統(tǒng)計到達時間、負的早模式宿節(jié)點統(tǒng)計要求到達時間和邊的早模式延遲的統(tǒng)計和。

6.權(quán)利要求2的方法，包括確定晚模式統(tǒng)計邊松弛，其中晚模式統(tǒng)計邊松弛是晚模式源節(jié)點統(tǒng)計到達時間、負的晚模式宿節(jié)點統(tǒng)計要求到達時間和邊的晚模式延遲的統(tǒng)計和。

7.權(quán)利要求1的方法，其中推斷包括將每條邊的邊關(guān)鍵度概率確定為割集中所有邊的邊松弛的最大值的胎緊概率。

8.權(quán)利要求1的方法，其中影響電路性能的各變化源被同時考慮。

9.權(quán)利要求1的方法，其中通過使用劃分樹數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)執(zhí)行推斷步驟。

10.一種用于優(yōu)化電路的時序特征的方法，包括：

根據(jù)權(quán)利要求1-9的任一方法確定時序圖的邊的關(guān)鍵度概率；和

使用關(guān)鍵度概率指導電路的時序特征的優(yōu)化。

11.權(quán)利要求10的方法，其中通過使用劃分樹數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)執(zhí)行確定步驟。

12.一種用于在電路的統(tǒng)計時序分析中預測關(guān)鍵度的系統(tǒng)，包括：

用于形成與被計時的電路對應的有向無環(huán)時序圖的裝置；

用于執(zhí)行電路的統(tǒng)計時序的裝置；

用于為感興趣的每條邊定義將時序圖劃分為多個部分的割集的裝置；

用于為割集中的每條邊確定邊松弛的裝置；

用于計算割集中所有邊松弛的統(tǒng)計最大值的裝置；和

用于從統(tǒng)計最大值推斷每條邊的邊關(guān)鍵度概率的裝置。