[發明專利]用于測量電極微陣列上的結合事件的方法和設備

無效

• 申請號: 200680043101.0
• 申請日: 2006-09-25
• 公開（公告）號: CN101365827A
• 公開（公告）日: 2009-02-11
• 發明（設計）人: K·佩伊萬;M·比扎卡;C·坎普貝爾;R·W·李
• 申請（專利權）人: 康比麥崔克斯有限公司
• 主分類號: C25B11/00
• 分類號: C25B11/00;G01N27/26
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 李玲

1.一種讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其包括：

(a)提供一種測量系統，其具有控制系統、積分電路、微陣列室、多條電壓線、數字電路、以及模擬電路，其中所述控制系統、積分電路和微陣列室電路通信，其中所述微陣列室容納具有多個與所述控制系統和所述積分電路作電路通信的電極的微陣列，其中所述電壓線通過所述控制系統可切換地與各個電極相連接；

(b)通過將測量的電極組設定為接近接地、設定至少一個對電極的對電極電壓、以及中止一穩態周期來初始化測量，其中所述至少一個對電極與所述測量的電極組流體連通；

(c)對所述測量的電極組中的每個電極測量電流，該測量是通過：(i)使用所述第一電壓線將測量電極連接至具有閉合的復位開關的所述積分電路；(ii)中止一電極穩定時期；(iii)斷開所述復位開關以一采樣率測量并且記錄在測量時間內來自所述積分電路的輸出的電壓響應；(iv)閉合所述復位開關；以及(v)將所述測量電極切換回所述第二電壓線；以及

(d)計算所述測量的電極組中的各個電極的電流。

2.如權利要求1所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，第一電壓線將所述微陣列連接到所述積分電路并且將所述積分電路連接到所述控制系統。

3.如權利要求1所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，第二電壓線可設定為接地，其中第三電壓線可設定為一可編程的固定電壓。

4.如權利要求1所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，所述積分電路具有積分跨阻抗放大器，所述積分跨阻抗放大器具有正相輸入端和連接至所述正相輸入端的電位計。

5.如權利要求4所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，使用調節方法來調節所述電位計電路以維持電流在被測量的電極的電壓與電流沒有被測量的電極的電壓近乎相等。

6.如權利要求1所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，所述測量電極組的設定步驟用所述第二電壓線來完成，而所述對電極的電壓設定使用所述第三電壓線來完成。

7.如權利要求1所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，是通過所述電壓響應和時間的線性回歸來計算各個電極的電流。

8.如權利要求7所述的讀取電極微陣列上的電極的電流的方法，其特征在于，獲得的是斜率，其中所述電流等于所述斜率的負數乘以所述積分電路電容器的電容值。

9.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述對電位計電路的調節方法是選自由組裝前的手動調節和使用計算機軟件和具有數模轉換器和模數轉換器的測量和反饋電路的軟件調節所構成的組。

10.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述電極穩定周期為約10至600微秒。

11.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少一個對電極的所述可編程固定電壓為約0.02至0.5伏特。

12.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述穩態周期為約4至60秒。

13.如權利要求9所述的方法，其特征在于，所述電容值為約5至20皮法。

14.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述測量時間為約0.5至5毫秒。

15.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述采樣率為每10至100微秒約一個數據對。