[發(fā)明專利]用于對混濁介質(zhì)內(nèi)部進行成像的設(shè)備無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200680042730.1 | 申請日: | 2006-11-02 |
| 公開(公告)號: | CN101309633A | 公開(公告)日: | 2008-11-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | M·C·范貝克;M·B·范德馬克;L·P·巴克 | 申請(專利權(quán))人: | 皇家飛利浦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | A61B5/00 | 分類號: | A61B5/00;G02B6/35 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 黃睿;王英 |
| 地址: | 荷蘭艾*** | 國省代碼: | 荷蘭;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 混濁 介質(zhì) 內(nèi)部 進行 成像 設(shè)備 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種用于對混濁介質(zhì)的內(nèi)部進行成像的設(shè)備,所述容器包括用于容納混濁介質(zhì)(turbid?medium)的測量容積,所述測量容積包括能夠傳送光的多個源,所述源包括能夠傳送優(yōu)選光的優(yōu)選源以及能夠傳送次級(further)光的次級源,所述設(shè)備還包括檢測單元,其能夠檢測合成光,所述合成光包括包含至少一部分優(yōu)選光的優(yōu)選成分和包含至少一部分次級光的次級成分。術(shù)語“光”理解為覆蓋整個電磁光譜。
本發(fā)明還涉及包含該設(shè)備的一種醫(yī)學圖像獲取設(shè)備。
本發(fā)明還涉及一種選擇單元,用于將光發(fā)生器耦合到所述優(yōu)選源,并且用于從多個源中選出所述優(yōu)選源。
背景技術(shù)
可以由美國專利6,327,488?B1獲知一種用于對這種混濁介質(zhì)內(nèi)部進行成像的設(shè)備的實施例。該已知設(shè)備可以用于對混濁介質(zhì)的內(nèi)部進行成像,例如生物組織。在醫(yī)學診斷中,該設(shè)備可用于對女性乳房的內(nèi)部進行成像。所述測量容積容納諸如乳房之類的混濁介質(zhì)。所述測量容積可以由具有僅一個開口端的固定器所圍成,該開口側(cè)由邊緣部分所圍成。該邊緣部分可以具有可彈性變形的封閉環(huán)。這種固定器可以從美國專利6,480,281?B1中得知。通過經(jīng)由優(yōu)選源將光傳送到測量容積中,來將光施加到混濁介質(zhì),所述優(yōu)選源是從多個源中連續(xù)地選出的。經(jīng)由從多個源中選出的次級源而從測量容積射出的光被檢測器單元檢測到,并用于得到混濁介質(zhì)內(nèi)部的圖像。
該已知設(shè)備的缺陷在于,在合成光中次級成分的存在妨礙了對同樣存在于該合成光中的優(yōu)選成分的檢測。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的一個目的是抵消在合成光中的次級成分在檢測同樣存在于所述該合成光中的優(yōu)選成分時所產(chǎn)生的影響。根據(jù)本發(fā)明,該目的是通過以下實現(xiàn)的:將所述優(yōu)選源和所述次級源的位置確定為,使得所述優(yōu)選成分從所述優(yōu)選源到所述檢測器單元所沿著的路徑與所述次級成分從所述次級源到所述檢測器單元所沿著的路徑基本上相同。本發(fā)明基于這樣的認知:基本上沿相同路徑的光會受到外部因素(例如衰減)的相似影響。因此,如果在兩個源處的光強度是按照某個特定比例的,則在路徑的末端會保持該比例,即使光被衰減。作為以上的結(jié)果,如果強度比例在路徑開頭處是可接受的,則應(yīng)將光的路徑選擇為使得在路徑末端保持該強度比例。類似的,如果強度比例在路徑開頭處是不可接受的,則應(yīng)將光的路徑選擇為使得在路徑末端獲得可接受的強度比例。不可接受的強度比例可以起因于光的路徑基本上不相同,這導致了沿著一條路徑的光比沿著另一條路徑的光衰減得更多。結(jié)果,路徑的選擇會涉及重新確定原始路徑的開始位置。該已知設(shè)備的這個缺陷的本質(zhì)特征在于:至少一部分優(yōu)選光與至少一部分次級光被檢測為合成光的多個成分。因此,就必然有用于至少一部分優(yōu)選光與至少一部分次級光到達同一位置處的通路。在用于對混濁介質(zhì)的內(nèi)部進行成像的設(shè)備中,這些通路包括了在由至少一部分優(yōu)選光與至少一部分次級光以及從多個光源到所述混濁介質(zhì)的光的同時應(yīng)用所采用的通路之間的串擾。對于串擾的問題,該已知設(shè)備包括:光源;測量容積,用于容納混濁介質(zhì),所述混濁介質(zhì)由包括多個開口的壁所圍成;選擇單元,用于將光源耦合到圍成測量容積的壁中的開口,所述開口是從多個開口中連續(xù)選出的;光電檢測器單元,包括多個檢測器位置;光導管(light?guide),用于將光源耦合到選擇單元,將選擇單元耦合到圍成測量容積的壁中的開口,并且還將圍成測量容積的壁中的其它開口耦合到光電檢測器單元中的多個檢測器位置。光導管可以用連接器單元彼此相連,連接器單元包括入口元件和出口元件,用于同時耦合多個光導管。
在光導管位置彼此相鄰的多個位置上,在光導管之間會出現(xiàn)串擾。在該已知設(shè)備中,這些位置包括選擇單元、連接器單元和光電檢測器單元。
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