[發明專利]粘貼有光學基準標記的光學編碼器所用的度盤組件無效
| 申請號: | 200680041506.0 | 申請日: | 2006-11-09 |
| 公開(公告)號: | CN101535776A | 公開(公告)日: | 2009-09-16 |
| 發明(設計)人: | 唐納德·K·邁克爾;唐納德·L·格蘭姆斯;威廉·G·索伯恩;斯圖亞特·A·道德森二世;基思·M·辛里奇斯;安德魯·高曼;約耳·M·皮特森;克利斯朵夫·C·瑞奇 | 申請(專利權)人: | GSI集團公司 |
| 主分類號: | G01D5/347 | 分類號: | G01D5/347 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 美國馬*** | 國省代碼: | 美國;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 粘貼 光學 基準 標記 編碼器 所用 組件 | ||
1.一種應用于光學位置編碼器的度盤的粘貼式標記,包括:
柔性平面基板,經尺寸調整和配置為貼附于位于預定位置處的度盤;以及
所述平面基板上的標記圖案,該標記圖案可與所述光學位置編碼器的光源結合操作,以產生可被所述光學位置編碼器的檢測電路感測到的光強分布。
2.根據權利要求1所述的粘貼式標記,其中所述標記圖案是光學反射的。
3.根據權利要求2所述的粘貼式標記,其中所述反射標記圖案包括已構圖的反射金屬涂層。
4.根據權利要求3所述的粘貼式標記,其中所述基板是光學透明的,并且將已構圖的反射金屬涂層放置于遠離光學位置編碼器的光源和檢測電路的基板表面上。
5.根據權利要求4所述的粘貼式標記,其中所述基板的表面具有微結構圖案,并且已構圖的反射金屬涂層已經沉積于所述基板的表面上,以便創建形成所述反射標記圖案并且相應地進行構圖的反射金屬表面。
6.根據權利要求5所述的粘貼式標記,其中所述標記圖案包括二元相圖。
7.根據權利要求1所述的粘貼式標記,其中所述標記圖案包括衍射光學元件。
8.根據權利要求7所述的粘貼式標記,其中所述衍射光學元件包括波帶透鏡。
9.根據權利要求1所述的粘貼式標記,其中所述標記圖案可操作用于漫反射來自光源的光線,使得光強分布在檢測器處具有預定的光功率,以表明檢測電路已經遇到度盤的預定位置。
10.根據權利要求1所述的粘貼式標記,其中所述粘貼式標記具有中心區域和外圍區域,所述中心區域具有旋光性,以產生能被檢測電路感測到的光強分布,所述外圍區域不具有旋光性并且其尺寸已被調整,以便在將所述粘貼式標記應用于度盤的過程中由安裝工具嚙合,同時還保持所述安裝工具與所述粘貼式標記之間的分離。
11.一種用于光學位置編碼器的度盤組件,包括:
度盤;以及
如權利要求1所述的粘貼式標記,所述粘貼式標記應用于位于預定位置處的度盤,使得所述粘貼式標記的標記圖案與光學位置編碼器的光源結合操作,以產生可被光學位置編碼器的檢測電路感測到的光強分布。
12.一種光學位置編碼器,包括:
光源;
檢測電路;以及
如權利要求11所述的度盤組件。
13.一種制作光學位置編碼器的度盤組件的方法,包括:
獲得預制的光學度盤基板,所述基板具有多個相對精細間隔開的度盤刻度,所述度盤刻度與所述光學位置編碼器的光源結合操作,以產生可被光學位置編碼器中的檢測電路感測到的光強分布;
獲取預制的光學標記,所述預制光學標記具有其上形成標記圖案的柔性標記基板,所述標記圖案可與光源結合操作以產生可被檢測電路感測到的光強分布;以及
將預制的光學標記應用于預定位置處的預制光學度盤基板,使得在將光學位置編碼器用作光學度盤和檢測器之間預定的相對位置的指示器的操作期間,標記圖案可被所述檢測器檢測到。
14.根據權利要求13所述的方法,其中,所述柔性標記基板包括復合基板的一部分,所述復合基板包括貼附至所述柔性標記基板上的手柄部分,其中將所述預制的光學標記應用于預制的光學度盤基板包括使用所述手柄部分將柔性標記基板放置于預制的光學度盤基板上,并隨后去除所述手柄部分。
15.根據權利要求13所述的方法,其中,預制的光學標記具有中心區域和外圍區域,所述中心區域具有旋光性,以產生能被檢測電路感測到的光強分布,所述外圍區域不具有旋光性并且其尺寸已被調整,以便由安裝工具嚙合使用,其中將所述預制的光學標記應用于預制的光學度盤基板包括使用所述安裝工具與預制的光學標記的所述外圍區域嚙合,同時保持所述安裝工具和所述預制的光學標記的中心區域之間的分離。
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